Coherent Population Trapping Resonances in Cs Atomic Vapor Layers of Micrometric Thickness
المؤلفون المشاركون
Slavov, D.
Krasteva, A.
Cartaleva, S.
المصدر
International Journal of Optics
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-08-16
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We report on a novel behavior of the electromagnetically induced absorption (EIA) resonance observed on the D2 line of Cs for atoms confined in cells with micrometric thickness.
With the enhancement of light intensity, the EIA resonance amplitude suffers from fast reduction, and even at very low intensity (W < 1 mW/cm2), resonance sign reversal takes place and electromagnetically induced transparency (EIT) resonance is observed.
Similar EIA resonance transformation to EIT one is not observed in conventional cm-size cells.
A theoretical model is proposed to analyze the physical processes behind the EIA resonance sign reversal with light intensity.
The model involves elastic interactions between Cs atoms as well as elastic interaction of atom micrometric-cell windows, both resulting in depolarization of excited state which can lead to the new observations.
The effect of excited state depolarization is confirmed also by the fluorescence (absorption) spectra measurement in micrometric cells with different thicknesses.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Krasteva, A.& Slavov, D.& Cartaleva, S.. 2011. Coherent Population Trapping Resonances in Cs Atomic Vapor Layers of Micrometric Thickness. International Journal of Optics،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490249
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Krasteva, A.…[et al.]. Coherent Population Trapping Resonances in Cs Atomic Vapor Layers of Micrometric Thickness. International Journal of Optics No. 2011 (2011), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490249
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Krasteva, A.& Slavov, D.& Cartaleva, S.. Coherent Population Trapping Resonances in Cs Atomic Vapor Layers of Micrometric Thickness. International Journal of Optics. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490249
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-490249
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر