Modeling of Transistor's Tracking Behavior in Compact Models
المؤلف
المصدر
Active and Passive Electronic Components
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2010-12-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We present a novel method to model the tracking behavior of semiconductor transistors undergoing across-chip variations in a compact Monte Carlo model for SPICE simulations and show an enablement of simultaneous N(N−1)/2 tracking relations among N transistors on a chip at any poly density, any gate pitch, and any physical location for the first time.
At smaller separations, our modeled tracking relation versus physical location reduces to Pelgrom's characterization on device's distance-dependent mismatch.
Our method is very compact, since we do not use a matrix or a set of eigen solutions to represent correlations among N transistors.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Lu, Ning. 2010. Modeling of Transistor's Tracking Behavior in Compact Models. Active and Passive Electronic Components،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490401
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Lu, Ning. Modeling of Transistor's Tracking Behavior in Compact Models. Active and Passive Electronic Components No. 2011 (2011), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490401
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Lu, Ning. Modeling of Transistor's Tracking Behavior in Compact Models. Active and Passive Electronic Components. 2010. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490401
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-490401
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر