Investigations of Different Phases Responsible for Changes in Optical Properties of Organic Semiconducting Device Material Thin Films
المؤلفون المشاركون
Shukla, Vivek Kumar
Maitra, Jaya
المصدر
العدد
المجلد 2013، العدد 2013 (31 ديسمبر/كانون الأول 2013)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2013-03-07
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
علم المواد والمعادن
هندسة مدنية
الملخص EN
The environment sensitivity of organic semiconductors may change their molecular structure and hence optical properties.
Exploiting this concept, experiments were performed on a green light emitting material bis(8-hydroxy quinoline)Zinc, (Znq2) used in organic light emitting diodes (OLEDs).
Thin films were deposited at varying deposition parameters, and their properties were compared.
We investigated that as deposited films have a significant component of Znq2 tetramer out of two known forms, that is, dihydrate and anhydrous tetramer (Znq2)4, the films deposited at lower deposition rates have higher anhydrous content.
The degradation of thin film is shown, that changes the optical properties of film from green emission to blue which may be due to water adsorption and crystallization.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Shukla, Vivek Kumar& Maitra, Jaya. 2013. Investigations of Different Phases Responsible for Changes in Optical Properties of Organic Semiconducting Device Material Thin Films. Journal of Materials،Vol. 2013, no. 2013, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490792
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Shukla, Vivek Kumar& Maitra, Jaya. Investigations of Different Phases Responsible for Changes in Optical Properties of Organic Semiconducting Device Material Thin Films. Journal of Materials No. 2013 (2013), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490792
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Shukla, Vivek Kumar& Maitra, Jaya. Investigations of Different Phases Responsible for Changes in Optical Properties of Organic Semiconducting Device Material Thin Films. Journal of Materials. 2013. Vol. 2013, no. 2013, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-490792
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-490792
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر