The Probability That a Measurement Falls within a Range of n Standard Deviations from an Estimate of the Mean
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-12-18
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We derive a general equation for the probability that a measurement falls within a range of n standard deviations from an estimate of the mean.
So, we provide a format that is compatible with a confidence interval centered about the mean that is naturally independent of the sample size.
The equation is derived by interpolating theoretical results for extreme sample sizes.
The intermediate value of the equation is confirmed with a computational test.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Houston, Louis M.. 2012. The Probability That a Measurement Falls within a Range of n Standard Deviations from an Estimate of the Mean. ISRN Applied Mathematics،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-492471
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Houston, Louis M.. The Probability That a Measurement Falls within a Range of n Standard Deviations from an Estimate of the Mean. ISRN Applied Mathematics No. 2012 (2012), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-492471
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Houston, Louis M.. The Probability That a Measurement Falls within a Range of n Standard Deviations from an Estimate of the Mean. ISRN Applied Mathematics. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-492471
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-492471
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر