Two Simple Numerical Methods for the Free Boundary in One-Phase Stefan Problem
المؤلف
المصدر
Journal of Applied Mathematics
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-10، 10ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-06-02
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We present two simple numerical methods to find the free boundary in one-phase Stefan problem.
The work is motivated by the necessity for better understanding of the solution surface (temperatures) near the free boundary.
We formulate a log-transform function with the unfixed and fixed free boundary that has Lipschitz character near free boundary.
We solve the quadratic equation in order to locate the free boundary in a time-recursive way.
We also present several numerical results which illustrate a comparison to other methods.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kim, Seung Hyun. 2014. Two Simple Numerical Methods for the Free Boundary in One-Phase Stefan Problem. Journal of Applied Mathematics،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496992
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kim, Seung Hyun. Two Simple Numerical Methods for the Free Boundary in One-Phase Stefan Problem. Journal of Applied Mathematics No. 2014 (2014), pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496992
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kim, Seung Hyun. Two Simple Numerical Methods for the Free Boundary in One-Phase Stefan Problem. Journal of Applied Mathematics. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-10.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-496992
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-496992
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر