Modeling and Simulation of Special Shaped SOI Materials for the Nanodevices Implementation
المؤلفون المشاركون
Ravariu, Cristian
Babarada, Florin
المصدر
العدد
المجلد 2011، العدد 2011 (31 ديسمبر/كانون الأول 2011)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2011-07-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء
هندسة مدنية
الملخص EN
In the industrial chain of the nanomaterials for electronic devices, a main stage is represented by the wafer characterization.
This paper is starting from a standard SOI wafer with 200 nm film thickness and is proposing two directions for the SOI materials miniaturization, indexing the static characteristics by simulation.
The first SOI nanomaterial is a sub-10 nm Si-film with a rectangular shape.
The influence of the buried interface fixed charges has to be approached by the distribution theory.
The second proposal studies the influence of the vacuum cavity in a “U” shaped SOI nanofilm.
In all cases, with rectangular or “U” shape film, the simulations reveal transfer characteristics with a maximum and output characteristics with a minimum for sub-10 nm thickness of the SOI film.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ravariu, Cristian& Babarada, Florin. 2011. Modeling and Simulation of Special Shaped SOI Materials for the Nanodevices Implementation. Journal of Nanomaterials،Vol. 2011, no. 2011, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498514
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ravariu, Cristian& Babarada, Florin. Modeling and Simulation of Special Shaped SOI Materials for the Nanodevices Implementation. Journal of Nanomaterials No. 2011 (2011), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498514
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ravariu, Cristian& Babarada, Florin. Modeling and Simulation of Special Shaped SOI Materials for the Nanodevices Implementation. Journal of Nanomaterials. 2011. Vol. 2011, no. 2011, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-498514
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-498514
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر