Visible and Deep-Ultraviolet Raman Spectroscopy as a Tool for Investigation of Structural Changes and Redistribution of Carbon in Ni-Based Ohmic Contacts on Silicon Carbide
المؤلفون المشاركون
Latek, Mariusz
Kamińska, Eliana
Adamus, Zbigniew
Borysiewicz, Michał
Piotrowska, Anna
Ekielski, Marek
Borowicz, Paweł
Kuchuk, Adrian
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-09-25
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Three samples of 4H polytype of silicon carbide (4H-SiC) covered with the following sequence of layers: carbon/nickel/silicon/nickel/silicon were investigated with micro-Raman spectroscopy.
Different thermal treatments of each sample result in differences of carbon layer structure and migration of carbon atoms thorough silicide layer.
Two ranges of Raman shift were investigated.
The first one is placed between 1000 cm−1 and 2000 cm−1.
The main carbon bands D and G are observed in this range.
Analysis of the positions of these bands and their intensity ratio enables one to determine the graphitization degree of carbon layer.
Additional information about the changes of the carbon layer structure was derived from analysis of 2D band placed around 2700 cm−1.
Application of deep ultraviolet excitation delivered information about the structure of carbon layer formed on the free surface of silicides and the distribution of the carbon inside the silicide layer.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Borowicz, Paweł& Kuchuk, Adrian& Adamus, Zbigniew& Borysiewicz, Michał& Ekielski, Marek& Kamińska, Eliana…[et al.]. 2012. Visible and Deep-Ultraviolet Raman Spectroscopy as a Tool for Investigation of Structural Changes and Redistribution of Carbon in Ni-Based Ohmic Contacts on Silicon Carbide. ISRN Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503404
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Borowicz, Paweł…[et al.]. Visible and Deep-Ultraviolet Raman Spectroscopy as a Tool for Investigation of Structural Changes and Redistribution of Carbon in Ni-Based Ohmic Contacts on Silicon Carbide. ISRN Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503404
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Borowicz, Paweł& Kuchuk, Adrian& Adamus, Zbigniew& Borysiewicz, Michał& Ekielski, Marek& Kamińska, Eliana…[et al.]. Visible and Deep-Ultraviolet Raman Spectroscopy as a Tool for Investigation of Structural Changes and Redistribution of Carbon in Ni-Based Ohmic Contacts on Silicon Carbide. ISRN Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-503404
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-503404
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر