Effects of Annealing Time on the Performance of OTFT on Glass with ZrO2 as Gate Dielectric
المؤلفون المشاركون
Tang, W. M.
Greiner, M. T.
Ng, W. T.
Lu, Z. H.
Helander, M. G.
المصدر
Active and Passive Electronic Components
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-01-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Copper phthalocyanine-based organic thin-film transistors (OTFTs) with zirconium oxide (ZrO2) as gate dielectric have been fabricated on glass substrates.
The gate dielectric is annealed in N2 at different durations (5, 15, 40, and 60 min) to investigate the effects of annealing time on the electrical properties of the OTFTs.
Experimental results show that the longer the annealing time for the OTFT, the better the performance.
Among the devices studied, OTFTs with gate dielectric annealed at 350°C in N2 for 60 min exhibit the best device performance.
They have a small threshold voltage of −0.58 V, a low subthreshold slope of 0.8 V/decade, and a low off-state current of 0.73 nA.
These characteristics demonstrate that the fabricated device is suitable for low-voltage and low-power operations.
When compared with the TFT samples annealed for 5 min, the ones annealed for 60 min have 20% higher mobility and nearly two times smaller the subthreshold slope and off-state current.
The extended annealing can effectively reduce the defects in the high-k film and produces a better insulator/organic interface.
This results in lower amount of carrier scattering and larger CuPc grains for carrier transport.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Tang, W. M.& Helander, M. G.& Greiner, M. T.& Lu, Z. H.& Ng, W. T.. 2012. Effects of Annealing Time on the Performance of OTFT on Glass with ZrO2 as Gate Dielectric. Active and Passive Electronic Components،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506517
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Ng, W. T.…[et al.]. Effects of Annealing Time on the Performance of OTFT on Glass with ZrO2 as Gate Dielectric. Active and Passive Electronic Components No. 2012 (2012), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506517
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Tang, W. M.& Helander, M. G.& Greiner, M. T.& Lu, Z. H.& Ng, W. T.. Effects of Annealing Time on the Performance of OTFT on Glass with ZrO2 as Gate Dielectric. Active and Passive Electronic Components. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-506517
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-506517
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر