Origin of the Difference in the Resistivity of As-Grown Focused-Ion- and Focused-Electron-Beam-Induced Pt Nanodeposits
المؤلفون المشاركون
De Teresa, J. M.
Montero, O.
Córdoba, R.
Ibarra, M. R.
Fernández-Pacheco, A.
Strichovanec, P.
المصدر
العدد
المجلد 2009، العدد 2009 (31 ديسمبر/كانون الأول 2009)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2009-04-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
العلوم الهندسية و تكنولوجيا المعلومات
الكيمياء
هندسة مدنية
الملخص EN
We study the origin of the strong difference in the resistivity of focused-electron- and focused-Ga-ion-beam-induced deposition (FEBID and FIBID, resp.) of Pt performed in a dual beam equipment using (CH3)3Pt(CpCH3) as the precursor gas.
We have performed in-situ and ex-situ resistance measurements in both types of nanodeposits, finding that the resistivity of Pt by FEBID is typically four orders of magnitude higher than Pt by FIBID.
In the case of Pt by FEBID, the current-versus-voltage dependence is nonlinear and the resistance-versus-temperature behavior is strongly semiconducting, whereas Pt by FIBID shows linear current-versus-voltage dependence and only slight temperature dependence.
The microstructure, as investigated by high-resolution transmission electron microscopy, consists in all cases of Pt single crystals with size about 3 nm embedded in an amorphous carbonaceous matrix.
Due to the semiconducting character of the carbon matrix, which is the main component of the deposit, we propose that the transport results can be mapped onto those obtained in semiconducting materials with different degrees of doping.
The different transport properties of Pt by FEBID and FIBID are attributed to the higher doping level in the case of FIBID, as given by composition measurements obtained with energy-dispersive X-ray microanalysis.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
De Teresa, J. M.& Córdoba, R.& Fernández-Pacheco, A.& Montero, O.& Strichovanec, P.& Ibarra, M. R.. 2009. Origin of the Difference in the Resistivity of As-Grown Focused-Ion- and Focused-Electron-Beam-Induced Pt Nanodeposits. Journal of Nanomaterials،Vol. 2009, no. 2009, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-509605
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
De Teresa, J. M.…[et al.]. Origin of the Difference in the Resistivity of As-Grown Focused-Ion- and Focused-Electron-Beam-Induced Pt Nanodeposits. Journal of Nanomaterials No. 2009 (2009), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-509605
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
De Teresa, J. M.& Córdoba, R.& Fernández-Pacheco, A.& Montero, O.& Strichovanec, P.& Ibarra, M. R.. Origin of the Difference in the Resistivity of As-Grown Focused-Ion- and Focused-Electron-Beam-Induced Pt Nanodeposits. Journal of Nanomaterials. 2009. Vol. 2009, no. 2009, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-509605
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-509605
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر