Etude des oxydes anodiques obtenus sur InP par correlation de spectres xps et ellipsometriques
المؤلف
المصدر
Sciences et Technologie : Sciences Exactes
العدد
المجلد 2003، العدد 20 (31 ديسمبر/كانون الأول 2003)، ص ص. 73-77، 5ص.
الناشر
تاريخ النشر
2003-12-31
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
The characterization of physico-chemical properties of indium phosphide surface by X photon spectroscopy combined with spectroscopic ellipsometry presents notable advantages.
The inhomogeneous anodic oxide obtained on InP is an interesting sample for study.
This work contributes to the highliting of the possibilities provided by these two methods.
If spectroscopic ellipsometry (non destructive) is a powerful method of characterization, the exploitation of measured spectra requires adapted models for extracting information.
This research has led to the study of very complex nature of electrochemical oxide obtained on InP.
These results will allow a better understanding of the comportment of InP devices.
الملخص FRE
La caractérisation des propriétés physico-chimiques de la surface du phosphure d’indium (InP) par spectroscopie de photoélectron (XPS) combinée à l’ellipsométrie spectroscopique présente des avantages appréciables.
L’oxyde anodique inhomogène (de structure complexe) obtenu sur InP constitue un exemple d’étude très intéressant qui met en évidence les possibilités qu’offrent ces deux méthodes.
Si l’ellipsométrie spectroscopique (méthode non destructive) est un moyen de caractérisation très puissant, l’exploitation des spectres mesurés nécessite l’utilisation de modèles bien adaptés pour extraire l’information.
Ce travail a permis d’étudier la nature complexe de l’oxyde électrochimique obtenu sur InP.
Les résultats obtenus permettront une meilleure compréhension du comportement des composants électroniques à base de phosphure d’indium.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Mahdjoub, A.. 2003. Etude des oxydes anodiques obtenus sur InP par correlation de spectres xps et ellipsometriques. Sciences et Technologie : Sciences Exactes،Vol. 2003, no. 20, pp.73-77.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-540612
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Mahdjoub, A.. Etude des oxydes anodiques obtenus sur InP par correlation de spectres xps et ellipsometriques. Sciences et Technologie : Sciences Exactes No. 20 (Dec. 2003), pp.73-77.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-540612
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Mahdjoub, A.. Etude des oxydes anodiques obtenus sur InP par correlation de spectres xps et ellipsometriques. Sciences et Technologie : Sciences Exactes. 2003. Vol. 2003, no. 20, pp.73-77.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-540612
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الفرنسية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 77
رقم السجل
BIM-540612
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
