The structural and surface morphology properties of aluminum doped CdO thin films prepared by vacuum thermal evaporation technique
العناوين الأخرى
الخواص التركيبية و مورفولوجية السطح لأغشية (AI) النقية و المشوبة ب (CdO) و المحضرة بتقنية التبخير الحراري في الفراغ
المؤلفون المشاركون
Makki, Samir Ata
Salih, Iyad Ahmad
Shihab, Alyah Abd al-Muhsin
المصدر
Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science
العدد
المجلد 27، العدد 2 (30 يونيو/حزيران 2014)، ص ص. 158-169، 12ص.
الناشر
جامعة بغداد كلية التربية ابن الهيثم
تاريخ النشر
2014-06-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
12
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
حضرت أغشية أوكسيد الكادميوم (CdO) الرقيقة النقية و المشوبة بـ (Al) بنسب تشويب (0.5, 1, 2) % و باعتماد تقنية التبخير الحراري الفراغي على أرضيات زجاجية بدرجة حرارة الغرفة.
درست الخواص التركيبية باستخدام تقنية (XRD)، و كذلك مواصفات مورفولوجية السطح للأغشية المحضرة باستخدام تقنية (AFM) و (SEM).
أظهرت نتائج قياسات حيود الأشعة السينية (XRD) أن جميع الأغشية المحضرة النقية و المشوبة كانت ذا تركيب بلوري متعدد التبلور و من النوع المكعب الذي يمتلك ثابت شبيكة طوله 0.4696 nm مع هيمنة النمو بالاتجاه (111) للأغشية النقية و المشوبة كافة مع إزاحة في زاوية الحيود، و حدوث انخفاض في شدة القمم المقاسة مما يدل على نقصان التبلور و تناقص واضح أيضا يظهر في معدل الحجم الحبيبي (60.81-48.03) nm عند زيادة التشويب بالألمنيوم (Al).
استخدمت تقنية مجهر القوة الذرية (AFM) و المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) لدراسة طوبوغرافية و خشونة سطوح الأغشية الرقيقة المحضرة.
أظهرت نتائج فحوصات المجهر أن جميع الأغشية متجانسة و ناعمة و أن شكل الحجم الحبيبي المتكون أشبه بالشكل الكروي بالاعتماد على نسبة التشويب، مع زيادة معدل خشونة السطح (RMS) بازدياد نسبة التشويب.
و أظهرت النتائج أن الخواص التركيبية و مورفولوجية السطح تتحسن لأغشية CdO بعد تشويبها بنسب قليلة جدا من Al مما يجعل هذه الأغشية واسعة التطبيقات في مجال النبائط الإلكتروضوئية.
الملخص EN
Undoped and Al-doped CdO thin films have been prepared by vacuum thermal evaporation on glass substrate at room temperature for various Al doping ratios (0.5, 1 and 2) wt.
%.
The films are characterized by XRD and AFM surface morphology properties.
XRD analysis showed that CdO : Al films are highly polycrystalline and exhibit cubic crystal structure of lattice constant averaged to 0.4696 nm with (111) preferred orientation.
However, intensity of all peaks rapidly decreases which indicates that the crystallinity decreases with the increase of Al dopant.
The grain size decreases with Al content (from 60.81 to 48.03 nm).
SEM and AFM were applied to study the morphology and to estimate the surface roughness of the obtained films.
All films were homogeneous and smooth, with a characteristic spherical grain size depending on Al content.
The (RMS) roughness of the films increases with the increase of Al dopant.
The improvement of the structural and surface morphology properties of Al-doped CdO has potential applications for different optoelectronic device applications.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Shihab, Alyah Abd al-Muhsin& Makki, Samir Ata& Salih, Iyad Ahmad. 2014. The structural and surface morphology properties of aluminum doped CdO thin films prepared by vacuum thermal evaporation technique. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science،Vol. 27, no. 2, pp.158-169.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-545620
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Shihab, Alyah Abd al-Muhsin…[et al.]. The structural and surface morphology properties of aluminum doped CdO thin films prepared by vacuum thermal evaporation technique. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science Vol. 27, no. 2 (2014), pp.158-169.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-545620
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Shihab, Alyah Abd al-Muhsin& Makki, Samir Ata& Salih, Iyad Ahmad. The structural and surface morphology properties of aluminum doped CdO thin films prepared by vacuum thermal evaporation technique. Ibn al-Haitham Journal for Pure and Applied Science. 2014. Vol. 27, no. 2, pp.158-169.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-545620
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendices : p. 165-168
رقم السجل
BIM-545620
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
