Morphological and optical properties of cuo sapphire thin films prepared by pulsed laser deposition
العناوين الأخرى
الخصائص الطوبوغرافية و البصرية لأغشية أوكسيد النحاس المرسبة على الالومينا الرقيقة المحضرة بالليزر النبضي
المؤلفون المشاركون
Badir, Ban A.
Mahdi, Rana O.
Yusuf, Afnan K.
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 32، العدد 5B (31 مايو/أيار 2014)، ص ص. 892-898، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2014-05-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
تم في هذا البحث، دراسة تأثير درجة حرارة القاعدة على الخصائص التركيبية و الطوبوغرافية و البصرية لأغشية أوكسيد النحاس المحضرة بتقنية الترسيب بالليزر النبضي (PLD) على قواعد الالومينا بسمك غشاء 150 نانومتر.
تم ترسيب الغشاء بدرجة حرارة (400°C).
استخدم مجهر القوة الذرية (AFM) و مطياف فورير للأشعة تحت الحمراء و مطياف النفاذية للأشعة المرئية-فوق البنفسجية (UV-VIS) للأغشية المحضرة لدراسة الخصائص التركيبية و الطوبوغرافية و البصرية لها من خلال مجهر القوة الذرية وجد أن البناء متعدد التبلور و أن معدل الحجم الحبيبي أقل من 100 نانومتر و كذلك خشونة السطح (2,69 نانومتر) و معدل مربع الجذر هو (3,58 نانومتر).
أظهرت أطياف FTIR حزمة قوية عند 418cm-1 و 530 cm-1 العائدة لأغشية CuO.
و من قياس طيف الأشعة المرئية- و تحت البنفسجية تم حساب فجوة الطاقة من طيف الأشعة و وجد أن قيمتها تساوي (1.7Ev).
الملخص EN
This paper addresses the structure, morphological and optical properties of copper oxide (CuO) thin film deposited by pulsed laser deposition (PLD) method on Sapphire substrate of 150nm thickness.
The film deposited at substrate temperature (400ºC).
The atomic force microscopy (AFM), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) and UV-VIS transmission spectroscopy were employed to characterize the size, morphology, crystalline structure and optical properties of the prepared thin film.
The surface properties were characterized using (AFM), indicate that the average grain size less than 100nm, the surface roughness (2.69nm) and the root mean square is (3.58nm).
The FTIR spectra shown strong band at about 418 cm-1and 530 cm-1 related to CuO.
From the UVVIS transmission the energy band gap (1.7eV).
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Yusuf, Afnan K.& Badir, Ban A.& Mahdi, Rana O.. 2014. Morphological and optical properties of cuo sapphire thin films prepared by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal،Vol. 32, no. 5B, pp.892-898.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-581228
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Yusuf, Afnan K.…[et al.]. Morphological and optical properties of cuo sapphire thin films prepared by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal Vol. 32, no. 5B (2014), pp.892-898.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-581228
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Yusuf, Afnan K.& Badir, Ban A.& Mahdi, Rana O.. Morphological and optical properties of cuo sapphire thin films prepared by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal. 2014. Vol. 32, no. 5B, pp.892-898.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-581228
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 898
رقم السجل
BIM-581228
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
منصة "معرفة" للكتاب العربي الجامعي الرقمي 
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
