New quality measures for optical telescopes
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 45، العدد 1 (31 ديسمبر/كانون الأول 2004)، ص ص. 237-241، 5ص.
الناشر
تاريخ النشر
2004-12-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص EN
Two-dimensional computer simulations are carried out to quantify the quality of optical telescopes.
These simulations are studied in terms of the point spread function (psf)• and the modulation transfer function (MTF) ofa reference star.
From the result of these simulations, new simple quality measures are presented.
These measures describe the average intensity of the psf(AI), the average frequency components of the MTF (AF), full width of the psf(FP), full width of the MTF (FM), and the diffraction limited cut-off frequency as a function of telescope aperture diameter (D).
The study also presents a new simple criterion for the limitations imposed by the telescope aperture on the quality of an image ofa binary star.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Muhammad, A. T.. 2004. New quality measures for optical telescopes. Iraqi Journal of Science،Vol. 45, no. 1, pp.237-241.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-596280
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Muhammad, A. T.. New quality measures for optical telescopes. Iraqi Journal of Science Vol. 45, no. 1 (2004), pp.237-241.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-596280
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Muhammad, A. T.. New quality measures for optical telescopes. Iraqi Journal of Science. 2004. Vol. 45, no. 1, pp.237-241.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-596280
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 240-241
رقم السجل
BIM-596280
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر