![](/images/graphics-bg.png)
Structural, morphological and electrical properties of AgSbSe2 thin films
العناوين الأخرى
الخواص التركيبية و الكهربائية لأغشية AgSbSe2 الرقيقة
المؤلفون المشاركون
Hasan, Bushrah A.
Ibrahim, Isam M.
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 33، العدد 7B (31 يوليو/تموز 2015)، ص ص. 1283-1289، 7ص.
الناشر
تاريخ النشر
2015-07-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
AgSbSe2thin films with different thicknesses (100,300,500, and 700nm) have been deposited by single source vacuum thermal evaporation onto glass substrates at ambient temperature to study the effect of thickness on its structural morphology, and electrical properties.
The X–ray diffraction patterns of AgSbSe2thin film show that with low thickness (t=100,300 and 500nm) have amorphous structure convert to polycrystalline structure with increase thickness to 700 nm..AFM measurements show that the average grain size increases while the average surface roughness decreases with the increase of thickness.
The DC conductivity of the vacuum evaporated AgSbSe2thin films was measured in the temperature range (298-473)K and was found to increase on order of magnitude with increase of thickness.
The plot of conductivity with reciprocal temperature suggests, there are two activation energies Ea1, andEa2 for AgSbSe2for all and thicknesses which decrease with increasing thickness.
The electric carrier concentration and mobility show opposite dependence upon thickness.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hasan, Bushrah A.& Ibrahim, Isam M.. 2015. Structural, morphological and electrical properties of AgSbSe2 thin films. Engineering and Technology Journal،Vol. 33, no. 7B, pp.1283-1289.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-656605
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hasan, Bushrah A.& Ibrahim, Isam M.. Structural, morphological and electrical properties of AgSbSe2 thin films. Engineering and Technology Journal Vol. 33, no. 7B (2015), pp.1283-1289.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-656605
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hasan, Bushrah A.& Ibrahim, Isam M.. Structural, morphological and electrical properties of AgSbSe2 thin films. Engineering and Technology Journal. 2015. Vol. 33, no. 7B, pp.1283-1289.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-656605
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p.1288-1289
رقم السجل
BIM-656605
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)