Effect of indium content on X-ray diffraction and optical constants of InxSe1-x thin films
العناوين الأخرى
تأثير حيود الأنديوم على حيود الأشعة السينية و الثوابت البصرية لأغشية InxSe1-x الرقيقة
المؤلفون المشاركون
Abd al-Razzaq, Ayat Munir
Hasan, Bushra Abbas
المصدر
العدد
المجلد 14، العدد 29 (30 إبريل/نيسان 2016)، ص ص. 55-72، 18ص.
الناشر
تاريخ النشر
2016-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
18
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Alloys of InxSe1-x were prepared by quenching technique with different In content (x=10, 20, 30, and 40).
Thin films of these alloys were prepared using thermal evaporation technique under vacuum of 10-5 mbar on glass, at room temperature R.T with different thicknesses (t=300, 500 and 700 nm).
The X–ray diffraction measurement for bulk InxSe1-x showed that all alloys have polycrystalline structures and the peaks for x=10 identical with Se, while for x=20, 30 and 40 were identical with the Se and InSe standard peaks.
The diffraction patterns of InxSe1-x thin film show that with low In content (x=10, and 20) samples have semi crystalline structure, The increase of indium content to x=30 decreases degree of crystallinity and further increase of indium content to x=40 leads to convert structure to amorphous.
Increase of thickness from 300 to 700nm increases degree of crystallinity for all indium content.
Transmittance measurements were used to calculate refractive index n and the extinction coefficient k using Swanepole’s method.
The optical constants such as refractive index (n), extinction coefficient (k) and dielectric constant (εr, εi) increases for low indium content samples and decreases for high indium content samples, while increase of thickness increases optical constants for all x values.
The oscillator energy E0, dispersion energy Ed, and other parameters have been determined by Wemple - DiDomenico single oscillator approach.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hasan, Bushra Abbas& Abd al-Razzaq, Ayat Munir. 2016. Effect of indium content on X-ray diffraction and optical constants of InxSe1-x thin films. Iraqi Journal of Physics،Vol. 14, no. 29, pp.55-72.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722815
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hasan, Bushra Abbas& Abd al-Razzaq, Ayat Munir. Effect of indium content on X-ray diffraction and optical constants of InxSe1-x thin films. Iraqi Journal of Physics Vol. 14, no. 29 (Apr. 2016), pp.55-72.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722815
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hasan, Bushra Abbas& Abd al-Razzaq, Ayat Munir. Effect of indium content on X-ray diffraction and optical constants of InxSe1-x thin films. Iraqi Journal of Physics. 2016. Vol. 14, no. 29, pp.55-72.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-722815
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes appendix : p. 67-71
رقم السجل
BIM-722815
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر