Using multilayer silicon nanostructures to enhanced Raman spectroscopy
المصدر
al-Mustansiriyah Journal of Science
العدد
المجلد 25، العدد 3 (30 يونيو/حزيران 2014)، ص ص. 117-124، 8ص.
الناشر
الجامعة المستنصرية كلية العلوم
تاريخ النشر
2014-06-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
العلوم الطبيعية والحياتية (متداخلة التخصصات)
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jawad, Muna Salih Muhammad. 2014. Using multilayer silicon nanostructures to enhanced Raman spectroscopy. al-Mustansiriyah Journal of Science،Vol. 25, no. 3, pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-740530
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jawad, Muna Salih Muhammad. Using multilayer silicon nanostructures to enhanced Raman spectroscopy. al-Mustansiriyah Journal of Science Vol. 25, no. 3 (Jun. 2014), pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-740530
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jawad, Muna Salih Muhammad. Using multilayer silicon nanostructures to enhanced Raman spectroscopy. al-Mustansiriyah Journal of Science. 2014. Vol. 25, no. 3, pp.117-124.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-740530
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
رقم السجل
BIM-740530
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
