![](/images/graphics-bg.png)
X-ray diffraction and dielectric properties of PbSe thin films
العناوين الأخرى
حيود الأشعة السينية و الخواص العزلية لأغشية PbSe الرقيقة
المؤلف
المصدر
العدد
المجلد 15، العدد 34 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-14، 14ص.
الناشر
تاريخ النشر
2017-12-31
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
14
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Lead selenide PbSe thin films of different thicknesses (300, 500, and 700 nm) were deposited under vacuum using thermal evaporation method on glass substrates.
X-ray diffraction measurements showed that increasing of thickness lead to well crystallize the prepared samples, such that the crystallite size increases while the dislocation density decreases with thickness increasing.
A.C conductivity, dielectric constants, and loss tangent are studied as function to thickness, frequency (10kHz-10MHz) and temperatures (293K-493K).
The conductivity measurements confirmconfirmed that hopping is the mechanism responsible for the conduction process.
Increasing of thickness decreases the thermal activation energy estimated from Arhinus equation is found to decrease with thickness increasing.
The increase of thickness lead to reduce the polarizability α while the increasing of temperature lead to increase α.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hasan, Bushra Abbas. 2017. X-ray diffraction and dielectric properties of PbSe thin films. Iraqi Journal of Physics،Vol. 15, no. 34, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-754723
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hasan, Bushra Abbas. X-ray diffraction and dielectric properties of PbSe thin films. Iraqi Journal of Physics Vol. 15, no. 34 (2017), pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-754723
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hasan, Bushra Abbas. X-ray diffraction and dielectric properties of PbSe thin films. Iraqi Journal of Physics. 2017. Vol. 15, no. 34, pp.1-14.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-754723
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 13-14
رقم السجل
BIM-754723
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)