![](/images/graphics-bg.png)
Structural, photo-functional and semiconductor properties of copper oxide thin films prepared by dc reactive method under various thicknesses
المؤلف
المصدر
Journal of Quantitative Economics Studies
العدد
المجلد 2017، العدد 3 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 133-142، 10ص.
الناشر
تاريخ النشر
2017-12-31
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
10
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
- الخواص الكهربائية
- التيار المستمر
- الخواص الضوئية
- الأغشية الرقيقة
- أكسيد النحاس
- مجاهر القوة الذرية
- مقياس الطيف الضوئي
الملخص EN
Cuprous oxide (Cu2O) has been formed on glass substrates by dc reactive magnetron sputtering method, whereas pure target of the solid copper was sputtered with a mixture of plasma for argon gas and oxygen gas was used to form these films.
Under vacuum chamber pressure of 1.2×10-5 Pa, thin film thickness was changed from 100 nm to 300 nm while other deposition parameters were fixed.
The influence of changing the thickness of thin films on the electrical and the optical properties was investigated in this study.
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray Diffractions system XRD, Atomic Force Microscopy (AFM), hall effect measurement system, UV–VIS spectrophotometer were employed to determine the characteristic of the deposited thin films.
Thin film of 200 nm has observed low resistivity of 60.63 Ω cm and direct band gap of 2.5eV.
This study has demonstrated that the thickness has direct influence on electrical and optical properties.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Shukr, Anmar Hasan. 2017. Structural, photo-functional and semiconductor properties of copper oxide thin films prepared by dc reactive method under various thicknesses. Journal of Quantitative Economics Studies،Vol. 2017, no. 3, pp.133-142.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-833959
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Shukr, Anmar Hasan. Structural, photo-functional and semiconductor properties of copper oxide thin films prepared by dc reactive method under various thicknesses. Journal of Quantitative Economics Studies No. 3 (Dec. 2017), pp.133-142.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-833959
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Shukr, Anmar Hasan. Structural, photo-functional and semiconductor properties of copper oxide thin films prepared by dc reactive method under various thicknesses. Journal of Quantitative Economics Studies. 2017. Vol. 2017, no. 3, pp.133-142.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-833959
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 141-142
رقم السجل
BIM-833959
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)