![](/images/graphics-bg.png)
The growth characteristics of RF-magnetron sputtered nanocrystalline TiO2 thin films
المؤلفون المشاركون
Sadkhan, Azhar Kazim
Muhammad, Suad A.
Khalaf, Muhammad Khammas
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 36، العدد 2B (28 فبراير/شباط 2018)، ص ص. 128-130، 3ص.
الناشر
تاريخ النشر
2018-02-28
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
3
التخصصات الرئيسية
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
In this paper, RF Magnetron sputtered TiO2 thin films deposited on glass slices at various powers (75,100,125 and 150) Watt for (1.5) hour and different thickness (62.5-88-118 and 132.6) nm, the TiO2 thin films annealed with 400°C for 2 hour and the morphology and structure of these films are described by X-ray diffraction XRD and atomic force microscopy AFM to show the phase structure.
X-ray diffraction investigation uncovered that the crystalline size of the TiO2 thin films displays an expanding pattern with increasing the sputtering power.
The preferred orientation of (101) was watched for the films deposited with sputtering power of (75,100,125 and 150) Watt.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Sadkhan, Azhar Kazim& Muhammad, Suad A.& Khalaf, Muhammad Khammas. 2018. The growth characteristics of RF-magnetron sputtered nanocrystalline TiO2 thin films. Engineering and Technology Journal،Vol. 36, no. 2B, pp.128-130.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899544
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Sadkhan, Azhar Kazim…[et al.]. The growth characteristics of RF-magnetron sputtered nanocrystalline TiO2 thin films. Engineering and Technology Journal Vol. 36, no. 2B (2018), pp.128-130.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899544
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Sadkhan, Azhar Kazim& Muhammad, Suad A.& Khalaf, Muhammad Khammas. The growth characteristics of RF-magnetron sputtered nanocrystalline TiO2 thin films. Engineering and Technology Journal. 2018. Vol. 36, no. 2B, pp.128-130.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-899544
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 130
رقم السجل
BIM-899544
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)