![](/images/graphics-bg.png)
Chromium-Induced Nanocrystallization of a-Si Thin Films into the Wurtzite Structure
المؤلفون المشاركون
Kumar, K. Uma Mahendra
Krishna, M. Ghanashyam
المصدر
العدد
المجلد 2008، العدد 2008 (31 ديسمبر/كانون الأول 2008)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2008-02-28
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Chromium metal-induced nanocrystallization of amorphous silicon (a-Si) thin films is reported.
The nanocrystalline nature of these films is confirmed from X-ray diffraction and Raman spectroscopy.
Significantly, the deconvolution of Raman spectra reveals that the thin films were crystallized in a mixed phase of cubic diamond and wurzite structure as evidenced by the lines at 512 and 496 cm−1, respectively.
The crystallite sizes were between 4 to 8 nm.
Optical properties of the crystallized silicon, derived from spectral transmittance curves, revealed high transmission in the region above the band gap.
Optical band gap varied between 1.3 to 2.0 eV depending on the nature of crystallinity of these films and remained unaltered with increase in Cr addition from 5 to 30%.
This signifies that the electronic structure of the nanocrystalline Silicon films is not affected considerably inspite of the presence of metal silicides and the process of crystallization.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kumar, K. Uma Mahendra& Krishna, M. Ghanashyam. 2008. Chromium-Induced Nanocrystallization of a-Si Thin Films into the Wurtzite Structure. Journal of Nanomaterials،Vol. 2008, no. 2008, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988110
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kumar, K. Uma Mahendra& Krishna, M. Ghanashyam. Chromium-Induced Nanocrystallization of a-Si Thin Films into the Wurtzite Structure. Journal of Nanomaterials No. 2008 (2008), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988110
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kumar, K. Uma Mahendra& Krishna, M. Ghanashyam. Chromium-Induced Nanocrystallization of a-Si Thin Films into the Wurtzite Structure. Journal of Nanomaterials. 2008. Vol. 2008, no. 2008, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-988110
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-988110
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)