![](/images/graphics-bg.png)
Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition
Other Title(s)
دراسة الخصائص البصرية و التركيبية لأغشية Mgx Zn1-x O بالترسيب بالليزر
Joint Authors
Simon, Jihan E.
Haydar, Adawiya Jumah
Source
Engineering and Technology Journal
Issue
Vol. 27, Issue 14 (30 Nov. 2009), pp.2653-2665, 13 p.
Publisher
Publication Date
2009-11-30
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
13
Main Subjects
Topics
Abstract AR
تم في هذا البحث دراسة الخصائص البصرية و التركيبية لأغشية .MgxZn1-xO و تم تحضير الأغشية على قواعد زجاجية من خلال خلط أوكسيد الخارصين و المغنيسيوم بنسب وزنية مختلفة تتراوح بين (0-0.3) wt % باستخدام الترسيب بليزر النديميوم الياك النبضي العامل بتقنية مفتاح عامل النوعية لتوليد التوافق الثاني ذو الطول الموجي (532) nm، رسبت الأغشية عند درجة حرارة .(2500C) تم دراسة الخصائص البصرية بقياس طيفي النفاذية و الامتصاص.
أن معدل النفاذية لكل الأغشية بالمنطقة فوق البنفسيجية للأطوال الموجية بين (200-900)nm فوق 85 % و تزاح حافة الامتصاص باتجاه الأطوال الموجية الأقصر بزيادة تركيز المغنيسيوم.
و كانت فجوة الطاقة البصرية لأغشية MgxZn1-xO المقاسة من طيف النفاذية بين (3.3-4.2) e V و التي يمكن السيطرة عليها بتغيير تركيز المغنيسيوم.
تم دراسة التركيب البلوري للفم المرسب باستخدام أشعة .X-ray يقل معامل الانكسار لأغشية MgxZn1-Xo بزيادة تركيز المغنيسيوم، مثلا يقل معامل الانكسار من 1.93 إلى 1.85 عند الطول الموجي 500nm بزيادة X من 0.15 إلى 0.3، كذلك تم دراسة معامل الخمود و ثابت العزل.
Abstract EN
-In this study, the optical and structure properties of Mgx Zn1.x O thin films is reported.
The Mgx Zn1.xO thin films were prepared on Glass substrates by Q-switch second harmonic Nd:YAG laser deposition technigue with wavelength of 532nm from a ZnO target mixed with Mg of (0-0.3) wt% , and the films deposited at temperature (250°C).
The optical properties were characterized by transmittance and absorption spectroscopy measurements.
For all the films the average transmission in the U.V (200-900) nm wavelength region was over 85% and the absorption edge shifted to a shorter wavelength as the magnesium concentration increased.
The optical energy gap of Mgx Zn1-x O thin films, measured from transmittance spectra could be controlled between (3.3eV and 4.2eV) by adjusting magnesium concentration.
X-ray diffraction was used to investigate the structure of the film.
The refractive index of hexagonal MgxZn1-xO thin films decreases with the Mg concentration increase, such as at the wavelength of (500nm) the refractive index decreases from 1.93 to 1.85 as x increase from 0.15 to 0.3.
The extinction coefficient and the complex dielectric constant were also investigate.
American Psychological Association (APA)
Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. 2009. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal،Vol. 27, no. 14, pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797
Modern Language Association (MLA)
Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal Vol. 27, no. 14 (2009), pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797
American Medical Association (AMA)
Haydar, Adawiya Jumah& Simon, Jihan E.. Optical and structure properties of Mgx Zn1_x O thin films by pulsed laser deposition. Engineering and Technology Journal. 2009. Vol. 27, no. 14, pp.2653-2665.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-261797
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 2657-2658
Record ID
BIM-261797