Evaluation of silicon waferf qualioty used in the photovoltaic industry
Other Title(s)
تقييم نوعية شرائح السيليكون المستخدمة في صناعة الخلايا الشمسية
Joint Authors
Boukennous, Y.
Johnston, S. W.
Fathi, M.
al-Umrani, A.
Source
Arab Journal of Basic and Applied Sciences
Issue
Vol. 4, Issue 0 (31 Aug. 2007), pp.92-101, 10 p.
Publisher
University of Bahrain College of Science
Publication Date
2007-08-31
Country of Publication
Bahrain
No. of Pages
10
Main Subjects
Topics
Abstract AR
من المعروف أن نوعية مادة السيلكون لها تأثير مباشر على محدودية المردود خلال عملية تصنيع الخلايا الشمسية.
و هذه الدراسة تدعم التطور الملحوظ في تقدير كفاءة الخلية الشمسية و ذلك باستخدام تقنيات تحليل عالية الكفاءة مثل : μ-PCD, RCPCD, FITR الفحص بأشعة أكس، و باستخدام الميكروسكوب الضوئي.
بعد دراسة ثلاثة أنواع من شرائح السليكون تحصلنا بواسطة μ-PCD على معدل الحياة و نسبة تركيز الحديد، و كانت قيمها في مجال μs 8-1 و 1310-1010 سم3- على التوالي.
إن تقنية RCPCD أعطت معدل حياة في مجال : μs 10-1، تحاليل FITR ساعدت في التعرف على ذرات الأكسجين الفراغية (حوالي 1810 سم3-) و ذرات الكربون الإبدالية (حوالي 1710 سم3-).
لقد أظهرت تحاليل الميكروسكوب الضوئي و التحليل الطيفي لتقنية FITR أظهرت وجود تلوث ناتج عن بعض مراحل التصنيع.
إن كل هذه العوامل تم جمعها و دمجها من أجل الوصول إلى قياس كفاءة الخلايا الشمسية المصعنة.
Abstract EN
Starting silicon material is known to be a yield-limiting factor in solar cell processing.
This study highlights progress towards prediction of potential solar cell efficiency by using powerful analysis tools such asµ-PCD, RCPCD, FTIR, X-ray radioscopy and optical microscopy.
After investigating three kinds of silicon wafers, we have extracted µ-PCD lifetime and iron concentration, which have valves in the range of 1-8 µ and 1010-1033 cm-3, respectively.
The RCPCD technique provided lifetime measurements in 1-10 ps range.
FTIR analysis helped in identifying interstitial oxygen (~1018 cm-3) and substitutional carbon (10 17 cm-3).
Optical microscopy and FTIR spectroscopy revealed the presence of contamination introduced by some process steps.
All of these effects were combined and correlated to measured efficiency of processed solar cells.
American Psychological Association (APA)
Boukennous, Y.& Johnston, S. W.& Fathi, M.& al-Umrani, A.. 2007. Evaluation of silicon waferf qualioty used in the photovoltaic industry. Arab Journal of Basic and Applied Sciences،Vol. 4, no. 0, pp.92-101.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-247058
Modern Language Association (MLA)
Boukennous, Y.…[et al.]. Evaluation of silicon waferf qualioty used in the photovoltaic industry. Arab Journal of Basic and Applied Sciences Vol. 4 (Aug. 2007), pp.92-101.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-247058
American Medical Association (AMA)
Boukennous, Y.& Johnston, S. W.& Fathi, M.& al-Umrani, A.. Evaluation of silicon waferf qualioty used in the photovoltaic industry. Arab Journal of Basic and Applied Sciences. 2007. Vol. 4, no. 0, pp.92-101.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-247058
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 100
Record ID
BIM-247058
