The effect of annealing and the influence of gamma-ray on the optical properties of nanostructure zinc oxide thin films
Other Title(s)
تأثير التلدين و التشعيع بأشعة كاما على الخواص البصرية لأغشية اوكسيد الخارصين الرقيقة ذات التركيب النانوي
Author
Source
Issue
Vol. 8, Issue 13 (31 Dec. 2010), pp.82-88, 7 p.
Publisher
University of Baghdad College of Science
Publication Date
2010-12-31
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
7
Main Subjects
Topics
Abstract AR
يعتبر أوكسيد الخارصين (ZnO) أحد أشباه الموصلات ضمن المجموعة II – VI, تم تحضير هذا المركب بشكل أغشية رقيقة على أرضية زجاجية بدرجة حرارة أساس 450 °C و ذلك باستعمال تقنية الرش الكيماوي الحراري, تم تحضير محلول الرش من كلوريد الخارصين بمولارية مقداره 0.1 M/L, تم تعريض نموذج من الأغشية المحضرة لأشعة كاما (γ-ray) باستعمال المصدر المشع CS137 و تم أيضا تلدين بعض النماذج المحضرة من أغشية ZnO عند درجة حرارة 550 مئوي.
تم فحص الأغشية الملدنة و المشععة بواسطة حيود الأشعة السينية و من تحليل النتائج تبين أن جميع الأغشية المحضرة هي نوع متعدد التبلور.
(Polycrystalline).
تم دراسة تركيب الغشاء بإجراء فحوصات بواسطة المجهر Atomic Force Microscope (AFM) و تبين أن الغشاء ذو تركيب نانوي.
بمعدل للحجم البلوري 77 nm.
درست الخواص البصرية للأغشية المحضرة باستعمال مطياف يعمل ضمن الأطوال الموجية الفوق البنفسجية - المرئية - و القريب من تحت الحمراء (UV - VIS - NIR) لمدى الأطوال الموجية 300-900 nm, أظهرت الدراسة البصرية بأن الامتصاصية تقل بعد التلدين كدالة لطاقة الفوتون عند الأطوال الموجية المذكورة و قد تبين أن للتلدين أثر واضح على قيم الثوابت البصرية.
تم حساب قيم فجوة الطاقة البصرية و كانت قيمتها 3.1eV, 3.3eV لكل من الانتقال الإلكتروني المباشر المسموح و الانتقال الإلكتروني الغير مباشر المسموح على التوالي و قد تبين أن قيم فجوة الطاقة البصرية تقل عند التلدين.
Abstract EN
The semiconductor ZnO is one of II–VI compound group, it is prepare as thin films by using chemical spray pyrolysis technique; the films are deposited onto glass substrate at 450 °C by using aqueous zinc chloride as a spray solution of molar concentration 0.1 M / L.
Sample of the prepared film is irradiating by Gamma ray using CS 137, other sample is annealed at 550°C.
The structure of the irradiated and annealed films are analyzed with X-ray diffraction, the results show that the films are polycrystalline in nature with preferred (002) orientation.
The general morphology of ZnO films are imaged by using the Atomic Force Microscope (AFM), it constructed from nanostructure with dimensions in order of 77 nm.
The optical properties of the prepared films are studied by using measurement from UV-VIS-NIR spectrophotometer at wavelength within the range (300-900) nm.
The optical results show that the absorption of the prepared films are decreases after annealing and increases after irradiation.
The optical constants such as the refractive index and the photoconductivity are calculated before and after annealing as a function of the photon energy.
Also the values of the optical energy gap are calculated, it is 3.3 eV and 3.1 eV for the direct and indirect allowed transition respectively ; these values are reduced after annealing.
American Psychological Association (APA)
Said, Nada Muhammad. 2010. The effect of annealing and the influence of gamma-ray on the optical properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics،Vol. 8, no. 13, pp.82-88.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-325704
Modern Language Association (MLA)
Said, Nada Muhammad. The effect of annealing and the influence of gamma-ray on the optical properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics Vol. 8, no. 13 (2010), pp.82-88.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-325704
American Medical Association (AMA)
Said, Nada Muhammad. The effect of annealing and the influence of gamma-ray on the optical properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics. 2010. Vol. 8, no. 13, pp.82-88.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-325704
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 88
Record ID
BIM-325704