Structural and electrical properties dependence on annealing temperature of bi thin films
Other Title(s)
اعتماد الخواص التركيبية و الكهربائية على حرارة التلدين لأغشية البزموث
Author
Source
Issue
Vol. 11, Issue 3 (30 Sep. 2014), pp.1257-1260, 4 p.
Publisher
University of Baghdad College of Science for Women
Publication Date
2014-09-30
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
4
Main Subjects
Topics
Abstract AR
في هذا البحث تم دراسة تأثير التلدين على الخصائص التركيبية و الكهربائية لأغشية Bi, المحضرة بتقنية التبخير الحراري على أرضيات زجاجية بدرجة حرارة الغرفة مع سمك (0.4 μ m) و معدل ترسيب 6.66 Å / sec.
لدنت هذه الأغشية بدرجات حرارة) (343, 363) K لمدة ساعة.
أظهرت نتائج XRD أن جميع الأغشية متعددة التبلور و لها تركيب سداسي.
درست الخصائص الكهربائية للأغشية المحضرة بتغير درجة حرارة التلدين إذ وجد أن التوصيلية الكهربائية المستمرة تقل من (Ω.cm)-1 16.42 x 10-2 عند درجة حرارة (343 K) إلى (Ω.cm)-1 10.11 x 10-2 عند درجة حرارة (363 K), ازدادت طاقات التنشيط الكهربائية (Ea1)، (Ea2) من (0.031 eV) إلى (0.049 eV) و من (0.096 eV) إلى (0.162 eV) بزيادة درجة حرارة التلدين من 343K إلى 363K, على التتالي.
بينت قياسات هول أن جميع الأغشية هي من النوع القابل.
Abstract EN
In this work the effect of annealing temperature on the structure and the electrical properties of Bi thin films was studied, the Bi films were deposited on glass substrates at room temperature by thermal evaporation technique with thickness (0.4 μm) and rate of deposition equal to 6.66Å/sec, all samples are annealed in a vacuum for one hour.
The X-ray diffraction analysis shows that the prepared samples are polycrystalline and it exhibits hexagonal structure.
The electrical properties of these films were studied with different annealing temperatures, the d.c conductivity for films decreases from 16.42 10-2 at 343K to 10.1110-2 (.cm)-1 at 363K.
The electrical activation energies Ea1 and Ea2 increase from 0.031 to 0.049eV and from 0.096 to 0.
162 eV with increasing of annealing temperature from 343K to 363K, respectively.
Hall measurements showed that all the films are p-type.
American Psychological Association (APA)
Hajim, Fatin Kasid. 2014. Structural and electrical properties dependence on annealing temperature of bi thin films. Baghdad Science Journal،Vol. 11, no. 3, pp.1257-1260.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-409086
Modern Language Association (MLA)
Hajim, Fatin Kasid. Structural and electrical properties dependence on annealing temperature of bi thin films. Baghdad Science Journal Vol. 11, no. 3 (2014), pp.1257-1260.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-409086
American Medical Association (AMA)
Hajim, Fatin Kasid. Structural and electrical properties dependence on annealing temperature of bi thin films. Baghdad Science Journal. 2014. Vol. 11, no. 3, pp.1257-1260.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-409086
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 1260
Record ID
BIM-409086
