Physical Properties of MOS Porous Silicon Detector

Other Title(s)

الخصائص الفيزيائية لكاشف السيليكون المساميالمحضر بطريقة الاكسدة

Joint Authors

Ulwan, Ulwan M.
Abd al-Zahrah, Narjis Z.
Khalaf, Wafa Khalid

Source

Engineering and Technology Journal

Issue

Vol. 27, Issue 11 (30 Aug. 2009), pp.2286-2291, 6 p.

Publisher

University of Technology

Publication Date

2009-08-30

Country of Publication

Iraq

No. of Pages

6

Main Subjects

Physics

Topics

Abstract AR

في هذا البحث تم دراسة التحسسية الضوئية لكاشف للسليكون المسامي حيث وجدناها تحسنت بعد المعالجة الحرارية السريعة، تحت أفضل شروط تحضير، التيار الضوئي ازداد من (1783 إلى 3408 µm / cm2) (عند كثافة قدرة 200 mW / cm2 لمصباح التنكستن) و تيار الظلام قل من 3750 إلى 300 µ m / cm2) عند فولتية انحياز عكسية (5V).

Abstract EN

In this research we studying the sensitivity of a porous silicon photo detector, we found it improved through rapid thermal oxidation processes.

Under our optimum preparation conditions, photocurrent can reach about 3408 μA (under power density 100 mW / cm2 tungsten lamp illumination) and dark current is about 300μA (at reverse bias of 5V).

American Psychological Association (APA)

Ulwan, Ulwan M.& Abd al-Zahrah, Narjis Z.& Khalaf, Wafa Khalid. 2009. Physical Properties of MOS Porous Silicon Detector. Engineering and Technology Journal،Vol. 27, no. 11, pp.2286-2291.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-48340

Modern Language Association (MLA)

Ulwan, Ulwan M.…[et al.]. Physical Properties of MOS Porous Silicon Detector. Engineering and Technology Journal Vol. 27, no. 11 (2009), pp.2286-2291.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-48340

American Medical Association (AMA)

Ulwan, Ulwan M.& Abd al-Zahrah, Narjis Z.& Khalaf, Wafa Khalid. Physical Properties of MOS Porous Silicon Detector. Engineering and Technology Journal. 2009. Vol. 27, no. 11, pp.2286-2291.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-48340

Data Type

Journal Articles

Language

English

Notes

Includes bibliographical references : p. 2290

Record ID

BIM-48340