![](/images/graphics-bg.png)
The Low-Temperature Crystallization and Interface Characteristics of ZnInSnOIn Films Using a Bias-Crystallization Mechanism
المؤلفون المشاركون
Chang, Shoou-Jinn
Hu, Zhan-Shuo
Lui, Truan-Sheng
Hung, Fei-Yi
Chen, Kuan-Jen
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-02-28
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This study presents a successful bias crystallization mechanism (BCM) based on an indium/glass substrate and applies it to fabrication of ZnInSnO (ZITO) transparent conductive oxide (TCO) films.
The effects of bias-crystallization on electrical and structural properties of ZITO/In structure indicate that the current-induced Joule heating and interface diffusion were critical factors for low-temperature crystallization.
With biases of 4 V and 0.1 A, the resistivity of the ZITO film was reduced from 3.08×10−4 Ω∗cm to 6.3×10−5 Ω∗cm.
This reduction was attributed to the bias-induced energy, which caused indium atoms to diffuse into the ZITO matrix.
This effectuated crystallizing the amorphous ZITO (a-ZITO) matrix at a lower temperature (approximately 170∘C) for a short period (≤20 min) during a bias test.
The low-temperature BCM developed for this study obtained an efficient conventional annealed treatment (higher temperature), possessed energy-saving and speed advantages, and can be considered a candidate for application in photoelectric industries.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Chen, Kuan-Jen& Hung, Fei-Yi& Lui, Truan-Sheng& Chang, Shoou-Jinn& Hu, Zhan-Shuo. 2012. The Low-Temperature Crystallization and Interface Characteristics of ZnInSnOIn Films Using a Bias-Crystallization Mechanism. Journal of Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029174
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Chen, Kuan-Jen…[et al.]. The Low-Temperature Crystallization and Interface Characteristics of ZnInSnOIn Films Using a Bias-Crystallization Mechanism. Journal of Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029174
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Chen, Kuan-Jen& Hung, Fei-Yi& Lui, Truan-Sheng& Chang, Shoou-Jinn& Hu, Zhan-Shuo. The Low-Temperature Crystallization and Interface Characteristics of ZnInSnOIn Films Using a Bias-Crystallization Mechanism. Journal of Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029174
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1029174
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)