![](/images/graphics-bg.png)
Simple Method for Surface Selective Adsorption of Semiconductor Nanocrystals with Nanometric Resolution
المؤلفون المشاركون
Paltiel, Yossi
Koslovsky, O.
Livneh, N.
Harats, M. G.
Rapaport, R.
Yochelis, Shira
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-12-17
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Self-assembly methods play a major role in many modern fabrication techniques for various nanotechnology applications.
In this paper we demonstrate two alternatives for self-assembled patterning within the nanoscale resolution of optically active semiconductor nanocrystals.
The first is substrate selective and uses any high resolution surface patterning to achieve localized self-assembly.
The second method uses a surface with poly(methyl methacrylate) (PMMA) resist patterning adsorption of the nanocrystal with covalent bonds and liftoff.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Koslovsky, O.& Yochelis, Shira& Livneh, N.& Harats, M. G.& Rapaport, R.& Paltiel, Yossi. 2012. Simple Method for Surface Selective Adsorption of Semiconductor Nanocrystals with Nanometric Resolution. Journal of Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029323
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Koslovsky, O.…[et al.]. Simple Method for Surface Selective Adsorption of Semiconductor Nanocrystals with Nanometric Resolution. Journal of Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029323
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Koslovsky, O.& Yochelis, Shira& Livneh, N.& Harats, M. G.& Rapaport, R.& Paltiel, Yossi. Simple Method for Surface Selective Adsorption of Semiconductor Nanocrystals with Nanometric Resolution. Journal of Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1029323
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1029323
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)