Mosaic Structure Characterization of the AlInN Layer Grown on Sapphire Substrate
المؤلفون المشاركون
Ozbay, E.
Arslan, Engin
Demirel, Pakize
Çakmak, Huseyin
Öztürk, Mustafa K.
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-08-10
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
الملخص EN
The 150 nm thick, (0001) orientated wurtzite-phase Al1−xInxN epitaxial layers were grown by metal organic chemical vapor deposition on GaN (2.3 µm) template/(0001) sapphire substrate.
The indium (x) concentration of the Al1−xInxN epitaxial layers was changed as 0.04, 0.18, 0.20, 0.47, and 0.48.
The Indium content (x), lattice parameters, and strain values in the AlInN layers were calculated from the reciprocal lattice mapping around symmetric (0002) and asymmetric (10–15) reflection of the AlInN and GaN layers.
The mosaic structure characteristics of the AlInN layers, such as lateral and vertical coherence lengths, tilt and twist angle, heterogeneous strain, and dislocation densities (edge and screw type dislocations) of the AlInN epilayers, were investigated by using high-resolution X-ray diffraction measurements and with a combination of Williamson-Hall plot and the fitting of twist angles.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Arslan, Engin& Demirel, Pakize& Çakmak, Huseyin& Öztürk, Mustafa K.& Ozbay, E.. 2014. Mosaic Structure Characterization of the AlInN Layer Grown on Sapphire Substrate. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1034335
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Arslan, Engin…[et al.]. Mosaic Structure Characterization of the AlInN Layer Grown on Sapphire Substrate. Advances in Materials Science and Engineering No. 2014 (2014), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1034335
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Arslan, Engin& Demirel, Pakize& Çakmak, Huseyin& Öztürk, Mustafa K.& Ozbay, E.. Mosaic Structure Characterization of the AlInN Layer Grown on Sapphire Substrate. Advances in Materials Science and Engineering. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1034335
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1034335
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر