Novel BCD Process Platform with Integrated Self-Extracted JTE Trench Technology for EL Drivers ICs
المؤلفون المشاركون
Huang, Wei
Hu, Nanzhong
Yu, Zongguang
Li, Haiou
المصدر
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-01-08
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A low cost silicon BCD technology in place of high cost SOI BCD technology for monolithic integrated EL driver ICs application is put forward.
Several key technologies are presented.
An advanced SEJTET termination technology was designed instead of the conventional PIOS isolation to obtain smaller chip area and protect HVICs from the occurrence of di/dt effect under PWM operation.
Novel VDMOS/Resurf LDPMOS devices were developed compatibly to obtain the lowest R on , sp , improve silicon utilization, and simplify key process steps.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Huang, Wei& Hu, Nanzhong& Yu, Zongguang& Li, Haiou. 2014. Novel BCD Process Platform with Integrated Self-Extracted JTE Trench Technology for EL Drivers ICs. Journal of Nanomaterials،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041272
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Huang, Wei…[et al.]. Novel BCD Process Platform with Integrated Self-Extracted JTE Trench Technology for EL Drivers ICs. Journal of Nanomaterials No. 2014 (2014), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041272
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Huang, Wei& Hu, Nanzhong& Yu, Zongguang& Li, Haiou. Novel BCD Process Platform with Integrated Self-Extracted JTE Trench Technology for EL Drivers ICs. Journal of Nanomaterials. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041272
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1041272
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر