Emission Mechanisms of Si Nanocrystals and Defects in SiO2 Materials
المؤلفون المشاركون
Aceves-Mijares, M.
Morales, A.
Rodríguez, José Antonio
Vásquez-Agustín, Marco Antonio
المصدر
العدد
المجلد 2014، العدد 2014 (31 ديسمبر/كانون الأول 2014)، ص ص. 1-17، 17ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2014-08-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
17
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Motivated by the necessity to have all silicon optoelectronic circuits, researchers around the world are working with light emitting silicon materials.
Such materials are silicon dielectric compounds with silicon content altered, such as silicon oxide or nitride, enriched in different ways with Silicon.
Silicon Rich Oxide or silicon dioxide enriched with silicon, and silicon rich nitride are without a doubt the most promising materials to reach this goal.
Even though they are subjected to countless studies, the light emission phenomenon has not been completely clarified.
So, a review of different proposals presented to understand the light emission phenomenon including emissions related to nanocrystals and to point defects in SiO2 is presented.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Rodríguez, José Antonio& Vásquez-Agustín, Marco Antonio& Morales, A.& Aceves-Mijares, M.. 2014. Emission Mechanisms of Si Nanocrystals and Defects in SiO2 Materials. Journal of Nanomaterials،Vol. 2014, no. 2014, pp.1-17.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041513
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Rodríguez, José Antonio…[et al.]. Emission Mechanisms of Si Nanocrystals and Defects in SiO2 Materials. Journal of Nanomaterials No. 2014 (2014), pp.1-17.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041513
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Rodríguez, José Antonio& Vásquez-Agustín, Marco Antonio& Morales, A.& Aceves-Mijares, M.. Emission Mechanisms of Si Nanocrystals and Defects in SiO2 Materials. Journal of Nanomaterials. 2014. Vol. 2014, no. 2014, pp.1-17.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1041513
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1041513
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر