Transformation of Holes Emission Paths under Negative Bias Temperature Stress in Deeply Scaled pMOSFETs
المؤلفون المشاركون
Liao, Yiming
Ji, Xiaoli
Guo, Qiang
Yan, Feng
المصدر
Advances in Condensed Matter Physics
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-04-27
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We examine the impact of negative bias temperature (NBT) stress on the fluctuations in ID and IG for deeply scaled pMOSFETs and find that the relative high NBT stress triggers IG-RTN and ID-step.
Through the analysis of the field dependence of emission constant and the carrier separation measurement, it is found that under the relative high NBT stress some traps keep charged state for very long time, as observing step-like behaviors in ID, while other traps emit charged holes to the gate side through TAT process, which originate both ID-step and ID-RTN.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Liao, Yiming& Ji, Xiaoli& Guo, Qiang& Yan, Feng. 2015. Transformation of Holes Emission Paths under Negative Bias Temperature Stress in Deeply Scaled pMOSFETs. Advances in Condensed Matter Physics،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052271
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Liao, Yiming…[et al.]. Transformation of Holes Emission Paths under Negative Bias Temperature Stress in Deeply Scaled pMOSFETs. Advances in Condensed Matter Physics No. 2015 (2015), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052271
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Liao, Yiming& Ji, Xiaoli& Guo, Qiang& Yan, Feng. Transformation of Holes Emission Paths under Negative Bias Temperature Stress in Deeply Scaled pMOSFETs. Advances in Condensed Matter Physics. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052271
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1052271
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر