![](/images/graphics-bg.png)
Determination of Temperature-Dependent Stress State in Thin AlGaN Layer of AlGaNGaN HEMT Heterostructures by Near-Resonant Raman Scattering
المؤلفون المشاركون
Yang, Xifeng
Liu, Yanli
Chen, Dunjun
Lu, Hai
Zhang, Rong
Zheng, Youdou
المصدر
Advances in Condensed Matter Physics
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-03-22
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The temperature-dependent stress state in the AlGaN barrier layer of AlGaN/GaN heterostructure grown on sapphire substrate was investigated by ultraviolet (UV) near-resonant Raman scattering.
Strong scattering peak resulting from the A1(LO) phonon mode of AlGaN is observed under near-resonance condition, which allows for the accurate measurement of Raman shifts with temperature.
The temperature-dependent stress in the AlGaN layer determined by the resonance Raman spectra is consistent with the theoretical calculation result, taking lattice mismatch and thermal mismatch into account together.
This good agreement indicates that the UV near-resonant Raman scattering can be a direct and effective method to characterize the stress state in thin AlGaN barrier layer of AlGaN/GaN HEMT heterostructures.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Liu, Yanli& Yang, Xifeng& Chen, Dunjun& Lu, Hai& Zhang, Rong& Zheng, Youdou. 2015. Determination of Temperature-Dependent Stress State in Thin AlGaN Layer of AlGaNGaN HEMT Heterostructures by Near-Resonant Raman Scattering. Advances in Condensed Matter Physics،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052330
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Liu, Yanli…[et al.]. Determination of Temperature-Dependent Stress State in Thin AlGaN Layer of AlGaNGaN HEMT Heterostructures by Near-Resonant Raman Scattering. Advances in Condensed Matter Physics No. 2015 (2015), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052330
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Liu, Yanli& Yang, Xifeng& Chen, Dunjun& Lu, Hai& Zhang, Rong& Zheng, Youdou. Determination of Temperature-Dependent Stress State in Thin AlGaN Layer of AlGaNGaN HEMT Heterostructures by Near-Resonant Raman Scattering. Advances in Condensed Matter Physics. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1052330
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1052330
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)