![](/images/graphics-bg.png)
Analysis of Power Transfer Efficiency of Standard Integrated Circuit Immunity Test Methods
المؤلفون المشاركون
Nah, Wansoo
Huynh, Hai Au
Lee, Hak-Tae
Kim, SoYoung
المصدر
International Journal of Antennas and Propagation
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-05-10
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Direct power injection (DPI) and bulk current injection (BCI) methods are defined in IEC 62132-3 and IEC 62132-4 as the electromagnetic immunity test method of integrated circuits (IC).
The forward power measured at the RF noise generator when the IC malfunctions is used as the measure of immunity level of the IC.
However, the actual power that causes failure in ICs is different from forward power measured at the noise source.
Power transfer efficiency is used as a measure of power loss of the noise injection path.
In this paper, the power transfer efficiencies of DPI and BCI methods are derived and validated experimentally with immunity test setup of a clock divider IC.
Power transfer efficiency varies significantly over the frequency range as a function of the test method used and the IC input impedance.
For the frequency range of 15 kHz to 1 GHz, power transfer efficiency of the BCI test was constantly higher than that of the DPI test.
In the DPI test, power transfer efficiency is particularly low in the lower test frequency range up to 10 MHz.
When performing the IC immunity tests following the standards, these characteristics of the test methods need to be considered.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Huynh, Hai Au& Lee, Hak-Tae& Nah, Wansoo& Kim, SoYoung. 2015. Analysis of Power Transfer Efficiency of Standard Integrated Circuit Immunity Test Methods. International Journal of Antennas and Propagation،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1065098
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Huynh, Hai Au…[et al.]. Analysis of Power Transfer Efficiency of Standard Integrated Circuit Immunity Test Methods. International Journal of Antennas and Propagation No. 2015 (2015), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1065098
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Huynh, Hai Au& Lee, Hak-Tae& Nah, Wansoo& Kim, SoYoung. Analysis of Power Transfer Efficiency of Standard Integrated Circuit Immunity Test Methods. International Journal of Antennas and Propagation. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1065098
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1065098
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)