Fault Modeling and Testing for Analog Circuits in Complex Space Based on Supply Current and Output Voltage
المؤلفون المشاركون
Hu, Hongzhi
Guo, Qing
Tian, Shulin
المصدر
Journal of Applied Mathematics
العدد
المجلد 2015، العدد 2015 (31 ديسمبر/كانون الأول 2015)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2015-03-09
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
This paper deals with the modeling of fault for analog circuits.
A two-dimensional (2D) fault model is first proposed based on collaborative analysis of supply current and output voltage.
This model is a family of circle loci on the complex plane, and it simplifies greatly the algorithms for test point selection and potential fault simulations, which are primary difficulties in fault diagnosis of analog circuits.
Furthermore, in order to reduce the difficulty of fault location, an improved fault model in three-dimensional (3D) complex space is proposed, which achieves a far better fault detection ratio (FDR) against measurement error and parametric tolerance.
To address the problem of fault masking in both 2D and 3D fault models, this paper proposes an effective design for testability (DFT) method.
By adding redundant bypassing-components in the circuit under test (CUT), this method achieves excellent fault isolation ratio (FIR) in ambiguity group isolation.
The efficacy of the proposed model and testing method is validated through experimental results provided in this paper.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hu, Hongzhi& Tian, Shulin& Guo, Qing. 2015. Fault Modeling and Testing for Analog Circuits in Complex Space Based on Supply Current and Output Voltage. Journal of Applied Mathematics،Vol. 2015, no. 2015, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1067144
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hu, Hongzhi…[et al.]. Fault Modeling and Testing for Analog Circuits in Complex Space Based on Supply Current and Output Voltage. Journal of Applied Mathematics No. 2015 (2015), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1067144
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hu, Hongzhi& Tian, Shulin& Guo, Qing. Fault Modeling and Testing for Analog Circuits in Complex Space Based on Supply Current and Output Voltage. Journal of Applied Mathematics. 2015. Vol. 2015, no. 2015, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1067144
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1067144
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر