Amorphous Silicon-Germanium Films with Embedded Nanocrystals for Thermal Detectors with Very High Sensitivity
المؤلفون المشاركون
Rosales-Quintero, Pedro
Calleja, Cesar
Torres, Alfonso
Moreno, Mario
المصدر
العدد
المجلد 2016، العدد 2016 (31 ديسمبر/كانون الأول 2016)، ص ص. 1-9، 9ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2016-02-17
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
We have optimized the deposition conditions of amorphous silicon-germanium films with embedded nanocrystals in a plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) reactor, working at a standard frequency of 13.56 MHz.
The objective was to produce films with very large Temperature Coefficient of Resistance (TCR), which is a signature of the sensitivity in thermal detectors (microbolometers).
Morphological, electrical, and optical characterization were performed in the films, and we found optimal conditions for obtaining films with very high values of thermal coefficient of resistance (TCR = 7.9% K−1).
Our results show that amorphous silicon-germanium films with embedded nanocrystals can be used as thermosensitive films in high performance infrared focal plane arrays (IRFPAs) used in commercial thermal cameras.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Calleja, Cesar& Torres, Alfonso& Rosales-Quintero, Pedro& Moreno, Mario. 2016. Amorphous Silicon-Germanium Films with Embedded Nanocrystals for Thermal Detectors with Very High Sensitivity. Journal of Nanotechnology،Vol. 2016, no. 2016, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109669
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Calleja, Cesar…[et al.]. Amorphous Silicon-Germanium Films with Embedded Nanocrystals for Thermal Detectors with Very High Sensitivity. Journal of Nanotechnology No. 2016 (2016), pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109669
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Calleja, Cesar& Torres, Alfonso& Rosales-Quintero, Pedro& Moreno, Mario. Amorphous Silicon-Germanium Films with Embedded Nanocrystals for Thermal Detectors with Very High Sensitivity. Journal of Nanotechnology. 2016. Vol. 2016, no. 2016, pp.1-9.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1109669
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1109669
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر