Lithography-Free, Low-Cost Method for Improving Photodiode Performance by Etching Silicon Nanocones as Antireflection Layer
المؤلفون المشاركون
Liu, Gang Logan
Jiang, Jing
Xu, Zhida
Lin, Jiahao
المصدر
العدد
المجلد 2016، العدد 2016 (31 ديسمبر/كانون الأول 2016)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2016-04-18
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
A three-step process has been demonstrated to improve the performance of photodiode by creating nanocone forest on the surface of photodiode as an antireflection layer.
This high-throughput, low-cost process has been shown to decrease the reflectivity by 66.1%, enhance the quantum efficiency by 27%, and increase the responsivity by 25.7%.
This low-cost manufacture process can be applied to increase the responsivity of silicon based photonic devices.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jiang, Jing& Xu, Zhida& Lin, Jiahao& Liu, Gang Logan. 2016. Lithography-Free, Low-Cost Method for Improving Photodiode Performance by Etching Silicon Nanocones as Antireflection Layer. Journal of Sensors،Vol. 2016, no. 2016, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110448
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jiang, Jing…[et al.]. Lithography-Free, Low-Cost Method for Improving Photodiode Performance by Etching Silicon Nanocones as Antireflection Layer. Journal of Sensors No. 2016 (2016), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110448
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jiang, Jing& Xu, Zhida& Lin, Jiahao& Liu, Gang Logan. Lithography-Free, Low-Cost Method for Improving Photodiode Performance by Etching Silicon Nanocones as Antireflection Layer. Journal of Sensors. 2016. Vol. 2016, no. 2016, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1110448
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1110448
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر