Synchrotron Radiation X-Ray Absorption Spectroscopy and Spectroscopic Ellipsometry Studies of InSb Thin Films on GaAs Grown by Metalorganic Chemical Vapor Deposition
المؤلفون المشاركون
Qian, Yingda
Liang, Yuanlan
Luo, Xuguang
He, Kaiyan
Sun, Wenhong
Lin, Hao-Hsiung
Talwar, Devki N.
Chan, Ting-Shan
Ferguson, Ian
Wan, Lingyu
Yang, Qingyi
Feng, Zhe Chuan
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2018، العدد 2018 (31 ديسمبر/كانون الأول 2018)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2018-07-08
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
الملخص EN
A series of ultrathin InSb films grown on GaAs by low-pressure metalorganic chemical vapor deposition with different V/III ratios were investigated thoroughly using spectroscopic ellipsometry (SE), X-ray diffraction, and synchrotron radiation X-ray absorption spectroscopy.
The results predicted that InSb films on GaAs grown under too high or too low V/III ratios are with poor quality, while those grown with proper V/III ratios of 4.20–4.78 possess the high crystalline quality.
The temperature-dependent SE (20–300°C) and simulation showed smooth variations of SE spectra, optical constants (n, k, e1, and ε2), and critical energy points (E1, E1+Δ1, E′0, E2, and E′1) for InSb film when temperature increased from 20°C to 250°C, while at 300°C, large changes appeared.
Our study revealed the oxidation of about two atomic layers and the formation of an indium-oxide (InO) layer of ∼5.4 nm.
This indicates the high temperature limitation for the use of InSb/GaAs materials, up to 250°C.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Qian, Yingda& Liang, Yuanlan& Luo, Xuguang& He, Kaiyan& Sun, Wenhong& Lin, Hao-Hsiung…[et al.]. 2018. Synchrotron Radiation X-Ray Absorption Spectroscopy and Spectroscopic Ellipsometry Studies of InSb Thin Films on GaAs Grown by Metalorganic Chemical Vapor Deposition. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2018, no. 2018, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1120968
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Qian, Yingda…[et al.]. Synchrotron Radiation X-Ray Absorption Spectroscopy and Spectroscopic Ellipsometry Studies of InSb Thin Films on GaAs Grown by Metalorganic Chemical Vapor Deposition. Advances in Materials Science and Engineering No. 2018 (2018), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1120968
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Qian, Yingda& Liang, Yuanlan& Luo, Xuguang& He, Kaiyan& Sun, Wenhong& Lin, Hao-Hsiung…[et al.]. Synchrotron Radiation X-Ray Absorption Spectroscopy and Spectroscopic Ellipsometry Studies of InSb Thin Films on GaAs Grown by Metalorganic Chemical Vapor Deposition. Advances in Materials Science and Engineering. 2018. Vol. 2018, no. 2018, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1120968
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1120968
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر