XPS Studies of LSCF Interfaces after Cell Testing
المؤلفون المشاركون
DiGiuseppe, Gianfranco
Boddapati, Venkatesh
Mothikhana, Hiten
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2018، العدد 2018 (31 ديسمبر/كانون الأول 2018)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2018-02-11
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
الملخص EN
The motivation of this investigation is to explore the possibility of using the depth profile capability of XPS to study interfaces after SOFC button cell testing.
The literature uses XPS to study various cathode materials but has devoted little to the understanding of various cathode interfaces especially after testing.
In this work, an SOFC button cell is first tested, and then, the LSCF cathode, barrier layer, and electrolyte are sputtered away to study the behavior of different interfaces.
This work has shown that some elements have moved into other layers of the SOFC cell.
It is argued that the migration of the elements is partly due to a redeposition mechanism after atoms are sputtered away, while the rest is due to interdiffusion between the SDC and YSZ layers.
However, additional work is needed to better understand the mechanism by which atoms move around at different interfaces.
The cell electrochemical performance is also discussed in some details but is not the focus.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
DiGiuseppe, Gianfranco& Boddapati, Venkatesh& Mothikhana, Hiten. 2018. XPS Studies of LSCF Interfaces after Cell Testing. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2018, no. 2018, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1121693
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
DiGiuseppe, Gianfranco…[et al.]. XPS Studies of LSCF Interfaces after Cell Testing. Advances in Materials Science and Engineering No. 2018 (2018), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1121693
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
DiGiuseppe, Gianfranco& Boddapati, Venkatesh& Mothikhana, Hiten. XPS Studies of LSCF Interfaces after Cell Testing. Advances in Materials Science and Engineering. 2018. Vol. 2018, no. 2018, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1121693
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1121693
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر