High Reliability and Fast-Speed Phase-Change Memory Based on Sb70Se30SiO2 Multilayer Thin Films
المؤلفون المشاركون
Zhang, Dan
Hu, Yifeng
You, Haipeng
Zhu, Xiaoqin
Sun, Yuemei
Zou, Hua
Zheng, Yan
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2018، العدد 2018 (31 ديسمبر/كانون الأول 2018)، ص ص. 1-6، 6ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2018-06-21
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
6
الملخص EN
Sb70Se30/SiO2 multilayer thin films were applied to improve the thermal stability by RF magnetron sputtering on SiO2/Si (100) substrates.
The characteristics of Sb70Se30/SiO2 multilayer thin films were investigated in terms of crystallization temperature, ten years of data retention, and energy bandgap.
It is observed that the crystallization temperature, 10-year data retention, and resistance of Sb70Se30/SiO2 multilayer composite thin films exhibited a higher value, suggesting that Sb70Se30/SiO2 multilayer composite thin films have superior thermal stability.
The AFM measurement suggests that the SbSe (1 nm)/SiO (9 nm) multilayer thin films possess a smaller surface roughness (RMS = 0.23 nm).
Besides, it was found that the phase-change time of SbSe (1 nm)/SiO (9 nm) multilayer thin films was shorter than that of GST in the process of crystallization and amorphization.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Zhang, Dan& Hu, Yifeng& You, Haipeng& Zhu, Xiaoqin& Sun, Yuemei& Zou, Hua…[et al.]. 2018. High Reliability and Fast-Speed Phase-Change Memory Based on Sb70Se30SiO2 Multilayer Thin Films. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2018, no. 2018, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1122484
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Zhang, Dan…[et al.]. High Reliability and Fast-Speed Phase-Change Memory Based on Sb70Se30SiO2 Multilayer Thin Films. Advances in Materials Science and Engineering No. 2018 (2018), pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1122484
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Zhang, Dan& Hu, Yifeng& You, Haipeng& Zhu, Xiaoqin& Sun, Yuemei& Zou, Hua…[et al.]. High Reliability and Fast-Speed Phase-Change Memory Based on Sb70Se30SiO2 Multilayer Thin Films. Advances in Materials Science and Engineering. 2018. Vol. 2018, no. 2018, pp.1-6.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1122484
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1122484
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر