Erratum to “Electrical Characterization of Postmetal Annealed Ultrathin TiN Gate Electrodes in Si MOS Capacitors”
المؤلفون المشاركون
المصدر
Advances in Materials Science and Engineering
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-1، 1ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-02-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
1
الملخص EN
In the article titled “Electrical Characterization of Postmetal Annealed Ultrathin TiN Gate Electrodes in Si MOS Capacitors” [1], there was an error in reference [14] which should be corrected as follows:
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Khan, Z. N.& Ahmed, S.& Ali, M.. 2017. Erratum to “Electrical Characterization of Postmetal Annealed Ultrathin TiN Gate Electrodes in Si MOS Capacitors”. Advances in Materials Science and Engineering،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1124360
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Khan, Z. N.…[et al.]. Erratum to “Electrical Characterization of Postmetal Annealed Ultrathin TiN Gate Electrodes in Si MOS Capacitors”. Advances in Materials Science and Engineering No. 2017 (2017), pp.1-1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1124360
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Khan, Z. N.& Ahmed, S.& Ali, M.. Erratum to “Electrical Characterization of Postmetal Annealed Ultrathin TiN Gate Electrodes in Si MOS Capacitors”. Advances in Materials Science and Engineering. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-1.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1124360
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1124360
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
