Confirmation of the Degradation of Single Junction Amorphous Silicon Modules (a-Si:H)‎

المؤلفون المشاركون

Meyer, E. L.
Osayemwenre, G. O.

المصدر

International Journal of Photoenergy

العدد

المجلد 2019، العدد 2019 (31 ديسمبر/كانون الأول 2019)، ص ص. 1-13، 13ص.

الناشر

Hindawi Publishing Corporation

تاريخ النشر

2019-12-30

دولة النشر

مصر

عدد الصفحات

13

التخصصات الرئيسية

الكيمياء

الملخص EN

This study examines the degradation of single junction amorphous silicon (a-Si:H) photovoltaic (PV) modules.

It summarises the main results obtained from over 7 years of field investigation of the degradation mechanisms of a-Si:H modules.

The investigation was based on performance parameters such as fill factors, parasitic resistances, and ideality factors.

The initial efficiencies for these modules were in accordance with the expected values; however, a significant decrease was observed during the monitoring period.

نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)

Osayemwenre, G. O.& Meyer, E. L.. 2019. Confirmation of the Degradation of Single Junction Amorphous Silicon Modules (a-Si:H). International Journal of Photoenergy،Vol. 2019, no. 2019, pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1167001

نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)

Osayemwenre, G. O.& Meyer, E. L.. Confirmation of the Degradation of Single Junction Amorphous Silicon Modules (a-Si:H). International Journal of Photoenergy No. 2019 (2019), pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1167001

نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)

Osayemwenre, G. O.& Meyer, E. L.. Confirmation of the Degradation of Single Junction Amorphous Silicon Modules (a-Si:H). International Journal of Photoenergy. 2019. Vol. 2019, no. 2019, pp.1-13.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1167001

نوع البيانات

مقالات

لغة النص

الإنجليزية

الملاحظات

Includes bibliographical references

رقم السجل

BIM-1167001