Properties of Nanostructure Bismuth Telluride Thin Films Using Thermal Evaporation
المؤلفون المشاركون
Arora, Swati
Jaimini, Vivek
Srivastava, Subodh
Vijay, Y. K.
المصدر
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-4، 4ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-03-22
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
Bismuth telluride has high thermoelectric performance at room temperature; in present work, various nanostructure thin films of bismuth telluride were fabricated on silicon substrates at room temperature using thermal evaporation method.
Tellurium (Te) and bismuth (Bi) were deposited on silicon substrate in different ratio of thickness.
These films were annealed at 50°C and 100°C.
After heat treatment, the thin films attained the semiconductor nature.
Samples were studied by X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) to show granular growth.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Arora, Swati& Jaimini, Vivek& Srivastava, Subodh& Vijay, Y. K.. 2017. Properties of Nanostructure Bismuth Telluride Thin Films Using Thermal Evaporation. Journal of Nanotechnology،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1184071
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Arora, Swati…[et al.]. Properties of Nanostructure Bismuth Telluride Thin Films Using Thermal Evaporation. Journal of Nanotechnology No. 2017 (2017), pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1184071
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Arora, Swati& Jaimini, Vivek& Srivastava, Subodh& Vijay, Y. K.. Properties of Nanostructure Bismuth Telluride Thin Films Using Thermal Evaporation. Journal of Nanotechnology. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-4.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1184071
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1184071
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر