Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional Nanomaterials
المؤلفون المشاركون
Jiang, Chenchen
Lu, Haojian
Zhang, Hongti
Lu, Yang
Shen, Yajing
المصدر
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-11، 11ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-10-25
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
11
التخصصات الرئيسية
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
In the past decades, in situ scanning electron microscopy (SEM) has become a powerful technique for the experimental study of low-dimensional (1D/2D) nanomaterials, since it can provide unprecedented details for individual nanostructures upon mechanical and electrical stimulus and thus uncover the fundamental deformation and failure mechanisms for their device applications.
In this overview, we summarized recent developments on in situ SEM-based mechanical and electrical characterization techniques including tensile, compression, bending, and electrical property probing on individual nanostructures, as well as the state-of-the-art electromechanical coupling analysis.
In addition, the advantages and disadvantages of in situ SEM tests were also discussed with some possible solutions to address the challenges.
Furthermore, critical challenges were also discussed for the development and design of robust in situ SEM characterization platform with higher resolution and wider range of samples.
These experimental efforts have offered in-depth understanding on the mechanical and electrical properties of low-dimensional nanomaterial components and given guidelines for their further structural and functional applications.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jiang, Chenchen& Lu, Haojian& Zhang, Hongti& Shen, Yajing& Lu, Yang. 2017. Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional Nanomaterials. Scanning،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197834
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jiang, Chenchen…[et al.]. Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional Nanomaterials. Scanning No. 2017 (2017), pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197834
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jiang, Chenchen& Lu, Haojian& Zhang, Hongti& Shen, Yajing& Lu, Yang. Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional Nanomaterials. Scanning. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-11.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197834
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1197834
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر