Growth and Characterization of M-Plane GaN Thin Films Grown on γ-LiAlO2 (100) Substrates
المؤلفون المشاركون
Lin, Yu-Chiao
Lo, Ikai
Shih, Hui-Chun
Chou, Mitch M. C.
Schaadt, D. M.
المصدر
العدد
المجلد 2017، العدد 2017 (31 ديسمبر/كانون الأول 2017)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2017-10-18
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
تكنولوجيا المعلومات وعلم الحاسوب
الملخص EN
M -plane GaN thin films were grown on LiAlO2 substrates under different N/Ga flux ratios by plasma-assisted molecular beam epitaxy.
An anisotropic growth of M-plane GaN was demonstrated against the N/Ga flux ratio.
As the N/Ga flux ratio decreased by increasing Ga flux, the GaN surface trended to a flat morphology with stripes along [112-0].
According to high-resolution X-ray diffraction analysis, Li5GaO4 was observed on the interface between GaN and LiAlO2 substrate.
The formation of Li5GaO4 would influence the surface morphology and crystal quality.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Lin, Yu-Chiao& Lo, Ikai& Shih, Hui-Chun& Chou, Mitch M. C.& Schaadt, D. M.. 2017. Growth and Characterization of M-Plane GaN Thin Films Grown on γ-LiAlO2 (100) Substrates. Scanning،Vol. 2017, no. 2017, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197859
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Lin, Yu-Chiao…[et al.]. Growth and Characterization of M-Plane GaN Thin Films Grown on γ-LiAlO2 (100) Substrates. Scanning No. 2017 (2017), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197859
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Lin, Yu-Chiao& Lo, Ikai& Shih, Hui-Chun& Chou, Mitch M. C.& Schaadt, D. M.. Growth and Characterization of M-Plane GaN Thin Films Grown on γ-LiAlO2 (100) Substrates. Scanning. 2017. Vol. 2017, no. 2017, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1197859
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1197859
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر