Temperature Dependence of Dark Count Rate and After Pulsing of a Single-Photon Avalanche Diode with an Integrated Active Quenching Circuit in 0.35 μm CMOS
المؤلفون المشاركون
Hofbauer, Michael
Steindl, Bernhard
Zimmermann, Horst
المصدر
العدد
المجلد 2018، العدد 2018 (31 ديسمبر/كانون الأول 2018)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2018-07-02
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The temperature dependence of a single-photon avalanche diode (SPAD) with an integrated quencher in 0.35 μm CMOS is investigated.
While the dark count rate strongly decreases with decreasing temperature, the after-pulsing probability (APP) does not change a lot in the investigated temperature range from −40°C to 50°C, although the dead time of the active quenching circuit (AQC) is only 9.5 ns.
This and the measured histograms of the interarrival time (IAT) suggest that the traps involved have a very short lifetime, which is not strongly temperature dependent, or alternatively that the traps are not the main source of after pulses in the investigated device.
Consequently, it may be necessary to find another explanation for the after pulses.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Hofbauer, Michael& Steindl, Bernhard& Zimmermann, Horst. 2018. Temperature Dependence of Dark Count Rate and After Pulsing of a Single-Photon Avalanche Diode with an Integrated Active Quenching Circuit in 0.35 μm CMOS. Journal of Sensors،Vol. 2018, no. 2018, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1202293
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Hofbauer, Michael…[et al.]. Temperature Dependence of Dark Count Rate and After Pulsing of a Single-Photon Avalanche Diode with an Integrated Active Quenching Circuit in 0.35 μm CMOS. Journal of Sensors No. 2018 (2018), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1202293
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Hofbauer, Michael& Steindl, Bernhard& Zimmermann, Horst. Temperature Dependence of Dark Count Rate and After Pulsing of a Single-Photon Avalanche Diode with an Integrated Active Quenching Circuit in 0.35 μm CMOS. Journal of Sensors. 2018. Vol. 2018, no. 2018, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-1202293
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-1202293
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر