The effect of grain boundary on the electrical and photoelectrical characteristics of Aup-Si schottky diode
العناوين الأخرى
تأثير كثافة حدود الحبيبات على الخواص الكهربائية و الضوئية لثنائى شوتكى نوع Aup-Si
المؤلف
المصدر
al-Rafidain Engineering Journal
العدد
المجلد 18، العدد 3 (30 يونيو/حزيران 2010)، ص ص. 10-18، 9ص.
الناشر
تاريخ النشر
2010-06-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
9
التخصصات الرئيسية
الملخص AR
يهدف هذا البحث إلى دراسة تأثير طبيعة حجم حدود الحبيبات المكونة لسطح P-Si على الخواص الالكترونية و الضوئية للثنائي شوتكي .Au / Si-P حيث تم تصنيع هذه الثنائيات عن طريق ترسيب طبقة من الذهب على سطح السليكون نوع P باستخدام تقنية التبخير الفراغي.
تمت دراسة خواص فولتية تيار عند مختلف درجات الحرارة إضافة إلى دراسة الاستجابة الطيفية للثنائيات المصنعة.
و وجد بأن ارتفاع حاجز شوتكي للثنائي Au / Si-P يعتمد بشكل كبير على كثافة الحبيبات و حجمها في السطح.
الملخص EN
This paper is intended to study the influence of the grain boundaries on the electronic and optoelectronic behavior of Au / P-Si Schottky diode.
These diodes were fabricated by evaporation of gold layers onto polycrystalline silicon wafers using vacuum evaporation technique.
The current-voltage characteristics at different grains boundary and temperatures, spectral response were investigated.
It is found that the Schottky barrier height for Au / P-Si diode obtained from I-V and spectral response characteristics are depends mainly on the surface grain boundary density and state density.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Muhammad, Khalid Khalil. 2010. The effect of grain boundary on the electrical and photoelectrical characteristics of Aup-Si schottky diode. al-Rafidain Engineering Journal،Vol. 18, no. 3, pp.10-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-250322
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Muhammad, Khalid Khalil. The effect of grain boundary on the electrical and photoelectrical characteristics of Aup-Si schottky diode. al-Rafidain Engineering Journal Vol. 18, no. 3 (Jun. 2010), pp.10-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-250322
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Muhammad, Khalid Khalil. The effect of grain boundary on the electrical and photoelectrical characteristics of Aup-Si schottky diode. al-Rafidain Engineering Journal. 2010. Vol. 18, no. 3, pp.10-18.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-250322
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 17-18
رقم السجل
BIM-250322
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر