A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case
المؤلفون المشاركون
المصدر
Sciences et Technologie : Sciences Exactes
العدد
المجلد 2006، العدد 24 (31 ديسمبر/كانون الأول 2006)، ص ص. 21-24، 4ص.
الناشر
تاريخ النشر
2006-12-31
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
يعتبر السيليكون من المواد الصلبة الهامة و المستعملة في صناعة الخلايا الشمسية, و بالتالي فإن دراسة و تحليل خصائص أشباه الموصلات بواسطة التقنيات المعتمدة على القذف الإلكتروني مثل تقنية التيار المحرض بواسطة الحزمة الإلكترونية و تقنية التألق المهبطي, تعتبر ذات أهمية كبرى.
في الوقت الحالي تعتبر طريقة مونتي كارلو أحسن وسيلة لأجل محاكاة الحركة العشوائية للإلكترونات المتغلغلة داخل المادة و بالتالي تحديد طول الانتشار.
في هذه المقالة نقترح طريقة حساب جديدة تعتمد على طريقة مونتي كارلو لتحديد عمق الإلكترونات المتغلغلة و صرف طاقتها داخل مادة السيليكون.
النتائج المتحصل عليها تمت مقارنتها مع نماذج تحليلية سابقة و تبين أن هناك تطابق جيد معها و خصوصا من أجل طاقات التسريع الضعيفة
الملخص EN
Silicon is a very important material used in solar cells fabrication.
The characterization of semiconductors by a scanning electron microscopy (SEM) using techniques like electron beam induced current (EBIC) and cathodoluminescence (CL) is of great interest.
Nowadays Monte Carlo (MC) method becomes a very important tool to simulate the diffusion length.
In this work, we propose a new Monte Carlo calculation of electron depth and energy dissipation in silicon.
Our results are compared with other analytical analysis.
Concerning the electron depth, there is a good agreement with other models, in particular at low beam energy.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. 2006. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes،Vol. 2006, no. 24, pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes No. 24 (2006), pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes. 2006. Vol. 2006, no. 24, pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 24
رقم السجل
BIM-277986
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
