![](/images/graphics-bg.png)
A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case
المؤلفون المشاركون
المصدر
Sciences et Technologie : Sciences Exactes
العدد
المجلد 2006، العدد 24 (31 ديسمبر/كانون الأول 2006)، ص ص. 21-24، 4ص.
الناشر
تاريخ النشر
2006-12-31
دولة النشر
الجزائر
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
يعتبر السيليكون من المواد الصلبة الهامة و المستعملة في صناعة الخلايا الشمسية, و بالتالي فإن دراسة و تحليل خصائص أشباه الموصلات بواسطة التقنيات المعتمدة على القذف الإلكتروني مثل تقنية التيار المحرض بواسطة الحزمة الإلكترونية و تقنية التألق المهبطي, تعتبر ذات أهمية كبرى.
في الوقت الحالي تعتبر طريقة مونتي كارلو أحسن وسيلة لأجل محاكاة الحركة العشوائية للإلكترونات المتغلغلة داخل المادة و بالتالي تحديد طول الانتشار.
في هذه المقالة نقترح طريقة حساب جديدة تعتمد على طريقة مونتي كارلو لتحديد عمق الإلكترونات المتغلغلة و صرف طاقتها داخل مادة السيليكون.
النتائج المتحصل عليها تمت مقارنتها مع نماذج تحليلية سابقة و تبين أن هناك تطابق جيد معها و خصوصا من أجل طاقات التسريع الضعيفة
الملخص EN
Silicon is a very important material used in solar cells fabrication.
The characterization of semiconductors by a scanning electron microscopy (SEM) using techniques like electron beam induced current (EBIC) and cathodoluminescence (CL) is of great interest.
Nowadays Monte Carlo (MC) method becomes a very important tool to simulate the diffusion length.
In this work, we propose a new Monte Carlo calculation of electron depth and energy dissipation in silicon.
Our results are compared with other analytical analysis.
Concerning the electron depth, there is a good agreement with other models, in particular at low beam energy.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. 2006. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes،Vol. 2006, no. 24, pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes No. 24 (2006), pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Elateche, Z.& Nouiri, A.. A numerical model to determine the diffusion length by EBIC method : study of Si case. Sciences et Technologie : Sciences Exactes. 2006. Vol. 2006, no. 24, pp.21-24.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-277986
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 24
رقم السجل
BIM-277986
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)