![](/images/graphics-bg.png)
Structural and optical properties for nano Gax Sb1-x films
العناوين الأخرى
الخصائص التركيبية و البصرية لأغشية Gax Sb1-x النانوية
المؤلفون المشاركون
al-Lami, Husayn Khazal Rashid
Jalaukhan, Ali Husayn Abd al-Razzaq
المصدر
العدد
المجلد 10، العدد 18 (30 سبتمبر/أيلول 2012)، ص ص. 24-28، 5ص.
الناشر
تاريخ النشر
2012-09-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
تم تحضير سبائكx-GaxSbl بتركيز مختلفة من الكاليوم (6.0 and 5.0,4.0 = x) في أنابيب الكوارتز المفرغة.
تم فحص تركيب السبائك المحضرة بواسطة تحليل حيود الاشعة السينية (XRD) و وجد بأنها متعددة التبلور لتركيب zincblend باتجاهية (220).
تم تحضير أغشية x -GaxSbl بسمك واحد ميكرون بطريقة التبخير الوميضي و مرسبة على زجاج بدرجة حرارة أساس 473 كلفن و تحت ضغط الخصائص الفيزيائية لأغشية GaxSbl كالخصائص التركيبية و البصرية.
أظهر تحليل الأشعة السينية بأن أغشية x-GaxSbl تمتلك اتجاهية(lll) لجميع تركيز الكاليوم.
يتغير الحجم الحبيبي مع تغير تركيز الكاليوم.
تم دراسة الخواص البصرية باستخدام مطياف IR-FT.
أثبتت الخصائص البصرية أن أغشية x-GaxSbl تمتلك فجوة طاقة مباشرة.
و جد أن فجوة الطاقة البصرية تزداد بزيادة تركيز الكاليوم (6.0,5.0,4.0).
تتغير قيم الثوابت البصرية بزيادة نسبة الكاليوم (x).
جميع الأغشية المحضرة x-GaxSbl المتعددة التبلور تعتبر مرشحا جيدا لاستخدامها كطبقة أساس في الفوتوفولتائية الحرارية (TPV).
الملخص EN
Alloys of GaxSb1-x system with different Ga concentration (x = 0.4, 0.5, 0.6) have been prepared in evacuated quartz tubes.
The structure of the alloys were examined by X-ray diffraction analysis (XRD) and found to be polycrystalline of zincblend structure with strong crystalline orientation (220).
Thin films of GaxSb1-x system of about 1.0 μm thickness have been deposited by flash evaporation method on glass substrate at 473K substrate temperature (Ts) and under pressure 10-6 mbar.
This study concentrated on the effect of Ga concentration (x) on some physical properties of GaxSb1-x thin films such as structural and optical properties.
The structure of prepared films for various values of x was polycrystalline.
The X-ray diffraction analysis (XRD) for GaxSb1-x showed that the preferential orientation was (111) for all values of Ga concentration.
The grain size was varied with Ga concentration.
The optical analysis is performed with the FT-IR spectrophotometer.
The optical measurement showed that Ga x Sb1- x thin films has direct energy gap .It is found that the optical energy gap increased when x increased with the range (x = 0.4, 0.5 and 0.6).
The optical constant for GaxSb1- x films was varied with increasing x.
These prepared polycrystalline Ga x Sb1- x thin film was a good candidate for use as a base layer material in thermo photovoltaic (TPV).
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Ilyas, Maysun Faysal Ahmad& al-Lami, Husayn Khazal Rashid& Jalaukhan, Ali Husayn Abd al-Razzaq. 2012. Structural and optical properties for nano Gax Sb1-x films. Iraqi Journal of Physics،Vol. 10, no. 18, pp.24-28.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-322790
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Lami, Husayn Khazal Rashid…[et al.]. Structural and optical properties for nano Gax Sb1-x films. Iraqi Journal of Physics Vol. 10, no. 18 (2012), pp.24-28.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-322790
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Ilyas, Maysun Faysal Ahmad& al-Lami, Husayn Khazal Rashid& Jalaukhan, Ali Husayn Abd al-Razzaq. Structural and optical properties for nano Gax Sb1-x films. Iraqi Journal of Physics. 2012. Vol. 10, no. 18, pp.24-28.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-322790
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 28
رقم السجل
BIM-322790
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)