Study the effect of annealing temperature on the structure of a-Se and electrical properties of a-Se c-Si heterojunction
العناوين الأخرى
دراسة تأثير التلدين على الخواص التركيبية للسيلنيوم العشوائي و الكهربائي للمفرق الهجيني a-Se c-Si
المؤلفون المشاركون
al-Lami, Husayn Khazal Rashid
Sabbar, Ihsan Hamyan
Adim, Kazim Abd al-Wahid
المصدر
العدد
المجلد 7، العدد 8 (30 إبريل/نيسان 2009)، ص ص. 39-42، 4ص.
الناشر
تاريخ النشر
2009-04-30
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
4
التخصصات الرئيسية
الموضوعات
الملخص AR
في هذا البحث تم دراسة تأثير التلدين على الخواص التركيبية للسيلنيوم و الخواص الكهربائية للمفرق ألهجيني a-Se / c-Si الناتج من ترسيب السلنيوم بطريقة التبخير الحراري على السليكون.
الخواص الكهربائية للمفرق الهجيني تتضمن خصائص التيار-فولتية في حالة الظلام و بدرجات تلدين مختلفة و خصائص سعة-فولتية.
من خصائص سعة-فولتية تبين أن المفرق الهجيني هو من النوع الحاد و أن جهد البناء تم حسابه من منحنى الفولتية و مقلوب مربع السعة و تبين أن جهد البناء للمفرق الهجيني يزداد من 1.21 إلى 1.62 إلكترون فولت بزيادة التلدين.
الملخص EN
In this work study effect of annealing temperature on the Structure of a-Se and electrical properties of a-Se / c-Si hetrojunction have been studied.
The hetrojunction fabricated by deposition of a-Se film on c-Si using thermal evaporation.
Electrical properties of a-Se / c-Si heterojunction include I-V characteristics, in dark at different annealing temperature and C-V characteristics are considered in the present work.
C-V characteristics suggested that the fabricated diode was abrupt type, built in potential determined by extrapolation from 1 / C2-V curve.
The built-in potential (Vbi) for the Se / Si System was found to be increase from 1.21 to 1.62eV with increasing of annealing temperature.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Lami, Husayn Khazal Rashid& Sabbar, Ihsan Hamyan& Adim, Kazim Abd al-Wahid. 2009. Study the effect of annealing temperature on the structure of a-Se and electrical properties of a-Se c-Si heterojunction. Iraqi Journal of Physics،Vol. 7, no. 8, pp.39-42.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338200
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Lami, Husayn Khazal Rashid…[et al.]. Study the effect of annealing temperature on the structure of a-Se and electrical properties of a-Se c-Si heterojunction. Iraqi Journal of Physics Vol. 7, no. 8 (2009), pp.39-42.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338200
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Lami, Husayn Khazal Rashid& Sabbar, Ihsan Hamyan& Adim, Kazim Abd al-Wahid. Study the effect of annealing temperature on the structure of a-Se and electrical properties of a-Se c-Si heterojunction. Iraqi Journal of Physics. 2009. Vol. 7, no. 8, pp.39-42.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338200
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 42
رقم السجل
BIM-338200
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر