![](/images/graphics-bg.png)
An investigation of reliability and life time prediction for power MOSFET using electronically and statistical technique
العناوين الأخرى
تخمين عمر البقاء لترانزستور القدرة نوع MOSFET تقنية الكترونية و تقنية إحصائية
المؤلفون المشاركون
al-Naqib, Abd al-Khaliq Abd al-Jabbar Ali Ghalib
Badr, Munaf Fathi
Kazim, Abd al-Hasan Abd Allah
المصدر
Engineering and Technology Journal
العدد
المجلد 31، العدد 4 (28 فبراير/شباط 2013)، ص ص. 551-558، 8ص.
الناشر
تاريخ النشر
2013-02-28
دولة النشر
العراق
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص AR
يهدف البحث إلى تخمين عمر البقاء لترانزستور القدرة power MOSFET باستخدام طريقتين أحداهما تجريبية و الأخرى تطبيقية إحصائية.
في الجزء التجريبي تم تشغيل النرانزستور بتردد عالي يصل إلى (50 kHz) و باستخدام دائرة سيطرة و تشغيل متقدمة تمكن من تقليل التأثيرات الجانبية و الضوضاء على الحمل المستخدمة للحصول على نتائج دقيقة.
إحصائيا تم استخدام تقنية المحاكاة لتوزيع ويبل القياسي للتنبؤ بعمر البقاء للترانزستور حيث تم استخدام طريقتين الأولى طريقة الإمكان الأعظم و الثانية طريقة الإنحدار الشامل للبيانات المحاكاة و تم إجراء التشغيل التطبيقي عن طريق تزويد الترانزستور بفولتيات متغيرة تبدأ من صفر فولت وصولا إلى فولتية الإنهيار التي يفشل الترانزستور فيها عن العمل.
إحصائيا أظهرت النتائج أفضلية الطريقة الأولى في التنبؤ رياضيا و تخمين وقت الفشل للترانزستور حيث تم استخدام أسلوب المحاكاة و بدرجة عالية من الدقة للنتائج التجريبية مقارنة بالطرائق المدروسة.
الملخص EN
This work is aimed to estimate the life time of the MOSFET power transistor through an empirical implementation work merged with statistical applications.
In the empirical part the MOSFET power transistors are subjected to high frequency(50kHz) via an electronically controlled model using advanced driving circuit (IR2113) that reduce the Miller effect of load side reflected to the transistor gate, so minimum voltage noise , to obtain accurate results.
The statistical approach is based on developing simulation technique using Weibull distribution to estimate the life time of MOSFET power transistor.
Two methods (maximum likelihood and order regression) were applied for simulated data of the actual performance to provide an accurately prediction of the failure time.
The transistor was tested by supply variable voltages from zero to break down voltage and different results are observed.
The results show that the first of the suggested method gives a best performance for simulation results compared with the two of the conventional methods.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
al-Naqib, Abd al-Khaliq Abd al-Jabbar Ali Ghalib& Badr, Munaf Fathi& Kazim, Abd al-Hasan Abd Allah. 2013. An investigation of reliability and life time prediction for power MOSFET using electronically and statistical technique. Engineering and Technology Journal،Vol. 31, no. 4, pp.551-558.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-346392
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
al-Naqib, Abd al-Khaliq Abd al-Jabbar Ali Ghalib…[et al.]. An investigation of reliability and life time prediction for power MOSFET using electronically and statistical technique. Engineering and Technology Journal Vol. 31, no. 4 B (2013), pp.551-558.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-346392
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
al-Naqib, Abd al-Khaliq Abd al-Jabbar Ali Ghalib& Badr, Munaf Fathi& Kazim, Abd al-Hasan Abd Allah. An investigation of reliability and life time prediction for power MOSFET using electronically and statistical technique. Engineering and Technology Journal. 2013. Vol. 31, no. 4, pp.551-558.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-346392
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references : p. 558
رقم السجل
BIM-346392
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
![](/images/ebook-kashef.png)
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر
![](/images/kashef-image.png)